Cálculo do nível Sigma

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CÁLCULO DO NÍVEL SIGMA PARA VARIÁVEIS QUANTITATIVASUtilizando processo deslocado 1,5 sigma

DESCRIÇÃO DA CARACTERÍSTICADADOS POR VARIÁVEIS RESULTADOS

Especificação Processodpmo Nível SigmaLIE ALVO LSE Média Desvio

Instruções:1) Preencha apenas os campos em azul.2) Na coluna "Descrição da característica", informe o nome ou a descrição das variáveis quantitativas do seu estudo.3) Na coluna "LIE", informe o limite inferior de especificação para cada uma das variáveis. 4) (opcional) Na coluna "Alvo", informe o valor nominal para o alvo ou valor teórico ideal de cada uma das variáveis.5) Na coluna "LSE", informe o limite superior de especificação para cada uma das variáveis. 6) Nas colunas "Média" e "Desvio", informe o valor da média e desvio padrão amostrais para cada variável.7) Analise os resultados gerados.

© 2007 Siqueira Campos Associados

Variáveis bilaterais

Variáveis unilterais

Variáveis que apresentam apenas limites inferiores de

especificação

Variáveis unilterais

Variáveis que apresentam apenas limites superiores de

especificação

www.siqueiracampos.com

N9
Siqueira Campos: Defeitos por milhão de oportunidades
D10
Siqueira Campos: Limite Inferior de Especificação
E10
Siqueira Campos: Alvo ou valor nominal teórico ideal. É opcional e não utilizado no cálculo do nível sigma.
F10
Siqueira Campos: Limite Superior de Especificação

CÁLCULO DO NÍVEL SIGMA PARA VARIÁVEIS QUALITATIVASUtilizando processo deslocado 1,5 sigma.

DESCRIÇÃO DA CARACTERÍSTICADADOS POR ATRIBUTOS RESULTADOS

Defeitos Oportunidades Unidadesdpu dpo dpmo d o u

Variáveis

Instruções:1) Preencha apenas os campos em azul.2) Na coluna "Descrição da característica", informe o nome ou a descrição das variáveis qualitativas do seu estudo.3) Na coluna "Defeitos", informe a quantidade de defeitos encontrados na amostra.4) Na coluna "Oportunidades", informe quantas oportunidades para defeito tem-se em cada unidade.5) Na coluna "Unidades", informe a quantidade de unidades/produtos/itens utilizados na amostra.6) Analise os resultados gerados.

© 2007 Siqueira Campos Associados

Nível Sigma

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D10
Siqueira Campos: Número de defeitos ou não-conformidades encontrados no estudo.
E10
Siqueira Campos: Número de oportunidades para defeito por unidade. Por exemplo: uma caneta pode estar sem tampa e/ou com a tinta vencida, totalizando duas oportunidades para defeito em uma unidade de caneta.
F10
Siqueira Campos: Número de unidades utilizadas no estudo.