Formação da Imagem - CBPFemecbpf/BasicoImg_Pinto.pdf · Formação da Imagem André Luiz Pinto,...
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Microscopia Eletrônica de Transmissão
A figura de difração e a formação de imagem.
Williams e Carter
Campo Claro e Campo Escuro
Campo Claro: Toda imagem que inclui o feixe diretoCampo Escuro: Toda imagem que deixa de incluir o feixe direto
Williams e Carter
Campo Escuro
Imagem de campo escuro do precipitado V6C5 e seupadrão de difração.
Imagem de campo escurodo precipitado V8C7 e seupadrão de difração.
Williams e Carter
Contraste por Difração
Representação esquemática da formação dasfranjas de rede formadas por vários pontos dedifração de um mesmo plano cristalino.
Contorno de grão especial(CSL) em TiO2.
Williams e Carter
Função de Onda
Equações de Howie-Whelan
.....2.2.2 2
2
1
1+++=Ψ ri
gri
gri
oTggO χπχπχπ φφφ
Função de onda na amostra
( )( )2
222
eff
eff
ggg ts
tssentIπ
πξπφ ⎟⎟⎠
⎞⎜⎜⎝
⎛==
geff ss
ξ12 +=
Observação de Discordâncias
Franjas no interior das células de discordânciasde NiO resultantes da distorção do sistema cúbico para romboédrico acima de TC.
Discordâncias em uma liga FeNiCr.
Paredes de discordânciasem Al deformado.
Williams e Carter
Referências
Williams, D. B. e Carter, C. B., “Transmission Electron Microscopy” , Ed. Plenum, New York, 1996.KUMAR, M., SCHWARTZ, A. J. e KING, W. E. Microstructural evolution during grain boundary engineering of low to medium stacking fault energy FCC materials. ActaMaterialia, v. 50, 2002, p. 2599-2612.Apostila da Jeol - MET