Www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 10 Seleção de Sistemas de Medição Fundamentos da Metrologia...
Transcript of Www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 10 Seleção de Sistemas de Medição Fundamentos da Metrologia...
www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI
1010 Seleção de Sistemas de Seleção de Sistemas de
MediçãoMedição
Fundamentos da Metrologia Fundamentos da Metrologia Científica e IndustrialCientífica e Industrial
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 2/34)
MotivaçãoMotivação
A Medição
E agora ?
As Opções
www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI
10.110.1
Considerações IniciaisConsiderações Iniciais
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 4/34)
Dificuldades para Selecionar o Dificuldades para Selecionar o Melhor SMMelhor SM
Algumas conseqüências da má seleção do Algumas conseqüências da má seleção do SM:SM: incerteza de medição incompatível;incerteza de medição incompatível; manutenções muito freqüentes e menor vida útil;manutenções muito freqüentes e menor vida útil; operação difícil, cara e/ou demorada;operação difícil, cara e/ou demorada; difícil integrar a sistemas pré-existentes;difícil integrar a sistemas pré-existentes; custos de aquisição, manutenções e calibrações custos de aquisição, manutenções e calibrações
excessivamente elevados;excessivamente elevados; assistência técnica deficiente ou inexistente;assistência técnica deficiente ou inexistente; erros de classificação excessivos no CQ;erros de classificação excessivos no CQ; má qualidade final dos produtos.má qualidade final dos produtos.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 5/34)
Um Caminho para Selecionar um Um Caminho para Selecionar um Sistema de MediçãoSistema de Medição
1.1. Defina bem a tarefa de medição;Defina bem a tarefa de medição;
2.2. Avalie os aspectos técnicos;Avalie os aspectos técnicos;
3.3. Avalie os aspectos logísticos;Avalie os aspectos logísticos;
4.4. Avalie os aspectos econômicos;Avalie os aspectos econômicos;
5.5. Pondere adequadamente os Pondere adequadamente os aspectos mais importantes e aspectos mais importantes e selecione o SM.selecione o SM.
www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI
10.210.2
Caracterização da Tarefa de Caracterização da Tarefa de MediçãoMedição
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 7/34)
Caracterização da Tarefa de Caracterização da Tarefa de MediçãoMedição
1.1. Defina bem a tarefa de medição;Defina bem a tarefa de medição;
2.2. Avalie os aspectos técnicos;Avalie os aspectos técnicos;
3.3. Avalie os aspectos logísticos;Avalie os aspectos logísticos;
4.4. Avalie os aspectos econômicos;Avalie os aspectos econômicos;
5.5. Pondere adequadamente os Pondere adequadamente os aspectos mais importantes e aspectos mais importantes e selecione o SM.selecione o SM.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 8/34)
Caracterização da Tarefa de Caracterização da Tarefa de MediçãoMedição
1.1. O que medir?O que medir?Caracterize o mensurando. O que medir? Em Caracterize o mensurando. O que medir? Em que posição medir? Média ou valor local? que posição medir? Média ou valor local?
2.2. Por que medir?Por que medir?Por que as medições são necessárias? Qual a Por que as medições são necessárias? Qual a sua utilidade no contexto da aplicação?sua utilidade no contexto da aplicação?
3.3. Onde medir?Onde medir?Local onde as medições devem ser Local onde as medições devem ser efetuadas: no laboratório? Integrada ao efetuadas: no laboratório? Integrada ao processo produtivo? Em locais variáveis processo produtivo? Em locais variáveis (requer sistema portátil)? (requer sistema portátil)?
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 9/34)
Caracterização da Tarefa de Caracterização da Tarefa de MediçãoMedição
4.4. Como medir?Como medir?Particularidades ou condições Particularidades ou condições especiais a observar antes ou ao especiais a observar antes ou ao medir.medir.
5.5. Faixa de medição:Faixa de medição:Deve ser função da faixa de valores Deve ser função da faixa de valores esperada para o mensurando.esperada para o mensurando.
tolerância
faixa de medição
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 10/34)
Caracterização da Tarefa de Caracterização da Tarefa de MediçãoMedição
6.6. Incerteza de medição:Incerteza de medição:Níveis de incerteza compatíveis com Níveis de incerteza compatíveis com necessidades técnicas e/ou do processo necessidades técnicas e/ou do processo produtivo (IM = IT/10).produtivo (IM = IT/10).
7.7. Resolução:Resolução:Definir a resolução necessária ao indicador Definir a resolução necessária ao indicador (R = IT/20).(R = IT/20).
8.8. Velocidade de medição:Velocidade de medição:Número de medições por unidade de tempo Número de medições por unidade de tempo ou, alternativamente, o tempo necessário ou, alternativamente, o tempo necessário para completar a medição de um item.para completar a medição de um item.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 11/34)
Caracterização da Tarefa de Caracterização da Tarefa de MediçãoMedição
9.9. Taxa de medição:Taxa de medição:No caso de grandezas dinâmicas, especificar No caso de grandezas dinâmicas, especificar o número de medições seqüenciais que o número de medições seqüenciais que devem ser adquiridas por unidade de tempo.devem ser adquiridas por unidade de tempo.
10.10. Condições do ambiente de medição:Condições do ambiente de medição:Faixa de temperatura, vibrações, sujeira ou Faixa de temperatura, vibrações, sujeira ou outros contaminantes, a campo eletro-outros contaminantes, a campo eletro-magnéticos, etc. magnéticos, etc.
11.11. Nível de automação:Nível de automação:Medição totalmente computadorizada, Medição totalmente computadorizada, parcialmente computadorizada ou totalmente parcialmente computadorizada ou totalmente manual.manual.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 12/34)
Caracterização da Tarefa de Caracterização da Tarefa de MediçãoMedição
12.12. Recursos de processamento:Recursos de processamento:Especificar recursos de processamento Especificar recursos de processamento e representação de resultados e representação de resultados requeridos. Gráficos, base de dados, requeridos. Gráficos, base de dados, relatórios e controle estatístico de relatórios e controle estatístico de processos, etc.processos, etc.
13.13. Outros requisitos:Outros requisitos:Especificar alguma outra Especificar alguma outra particularidade específica.particularidade específica.
www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI
10.310.3
A Seleção do Sistema de A Seleção do Sistema de MediçãoMedição
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 14/34)
Atendimento a aspectos Atendimento a aspectos técnicostécnicos
55 44 33 22 11 ObservaçõesObservações
Adequação ao mensurandoAdequação ao mensurando
Faixa de mediçãoFaixa de medição
Incerteza de mediçãoIncerteza de medição
ResoluçãoResolução
Velocidade de mediçãoVelocidade de medição
Taxa de mediçãoTaxa de medição
Robustez operacionalRobustez operacional
Praticidade operacionalPraticidade operacional
Nível de automaçãoNível de automação
Recursos de processamentoRecursos de processamento
Outros aspectos particularesOutros aspectos particulares
Pontuação obtidaPontuação obtida5 = pleno 4 = bem 3 = razoável 2 = mal 1 = não atende
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 15/34)
Aspectos TécnicosAspectos Técnicos
1.1. Adequação do SM ao mensurando:Adequação do SM ao mensurando:Concepção física compatível com as Concepção física compatível com as características do mensurando.características do mensurando.
Profundidade
Dimensão interna
Dimensão externa
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 16/34)
Aspectos TécnicosAspectos Técnicos
2.2. Adequação da Faixa de Medição:Adequação da Faixa de Medição:De acordo com as necessidades da tarefa de De acordo com as necessidades da tarefa de medição e análise do contexto.medição e análise do contexto.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 17/34)
Aspectos TécnicosAspectos Técnicos
3.3. Adequação da Incerteza de MediçãoAdequação da Incerteza de MediçãoDeve atender às necessidades da tarefa de Deve atender às necessidades da tarefa de medição (10% do IT).medição (10% do IT).
4.4. Resolução do MostradorResolução do MostradorDeve ser compatível com as necessidades Deve ser compatível com as necessidades da tarefa de medição (5% do IT).da tarefa de medição (5% do IT).
5.5. Velocidade de MediçãoVelocidade de MediçãoOs tempos de preparação e de utilização Os tempos de preparação e de utilização devem ser observados. Não deve causar devem ser observados. Não deve causar fadiga no operador.fadiga no operador.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 18/34)
Aspectos TécnicosAspectos Técnicos
6.6. Taxa de MediçãoTaxa de MediçãoDeve atender às necessidades da tarefa de Deve atender às necessidades da tarefa de medição.medição.
7.7. Robustez operacionalRobustez operacionalDeve ser adequado às condições de Deve ser adequado às condições de operação. operação.
8.8. Praticidade OperacionalPraticidade OperacionalFacilidade de uso e conforto operacional.Facilidade de uso e conforto operacional.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 19/34)
Aspectos TécnicosAspectos Técnicos
9.9. Grau de AutomaçãoGrau de AutomaçãoDevem atender às necessidades da tarefa Devem atender às necessidades da tarefa de medição. SM de “arquitetura aberta” de medição. SM de “arquitetura aberta” devem ser preferidos. devem ser preferidos.
10.10. Recursos de Processamento.Recursos de Processamento.Capacidade de atender às necessidades da Capacidade de atender às necessidades da tarefa de medição. Configurabilidade. tarefa de medição. Configurabilidade.
11.11. Outros RequisitosOutros RequisitosAtendimento às particularidades da tarefa Atendimento às particularidades da tarefa de medição.de medição.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 20/34)
Atendimento a aspectos Atendimento a aspectos técnicostécnicos
55 44 33 22 11 ObservaçõesObservações
Adequação ao mensurandoAdequação ao mensurando XX
Faixa de mediçãoFaixa de medição XX
Incerteza de mediçãoIncerteza de medição XX
ResoluçãoResolução XX
Velocidade de mediçãoVelocidade de medição XX
Taxa de mediçãoTaxa de medição XX
Robustez operacionalRobustez operacional XX
Praticidade operacionalPraticidade operacional XX
Nível de automaçãoNível de automação XX
Recursos de processamentoRecursos de processamento XX
Outros aspectos particularesOutros aspectos particulares XX
Pontuação obtidaPontuação obtida 46465 = pleno 4 = bem 3 = razoável 2 = mal 1 = não atende
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 21/34)
Atendimento a aspectos Atendimento a aspectos logísticoslogísticos
55 44 33 22 11 ObservaçõesObservações
Prazo de entregaPrazo de entrega
Atendimento pós-vendaAtendimento pós-venda
AtualizaçõesAtualizações
Aspectos adicionaisAspectos adicionais
Pontuação obtidaPontuação obtida
5 = pleno 4 = bem 3 = razoável 2 = mal 1 = não atende
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 22/34)
Aspectos LogísticosAspectos Logísticos
1.1. Prazo de EntregaPrazo de EntregaDeve ser conveniente. Deve ser conveniente. Em estoque Em estoque versusversus sob encomenda. sob encomenda.
2.2. Atendimento Pós-VendaAtendimento Pós-VendaAdaptação e operacionalização.Adaptação e operacionalização.Treinamento de operadores.Treinamento de operadores.Assistência técnica e manutenções.Assistência técnica e manutenções.Calibrações.Calibrações.História e reputação do representante e História e reputação do representante e fabricante.fabricante.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 23/34)
Aspectos LogísticosAspectos Logísticos
3.3. AtualizaçõesAtualizaçõesPolítica de atualização tecnológica.Política de atualização tecnológica.
Modularidade.Modularidade.
4.4. Outros AspectosOutros AspectosCompatibilidade com sistemas já existentes.Compatibilidade com sistemas já existentes.
Estoque de peças de reposição.Estoque de peças de reposição.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 24/34)
Atendimento a aspectos Atendimento a aspectos logísticoslogísticos
55 44 33 22 11 ObservaçõesObservações
Prazo de entregaPrazo de entrega XX
Atendimento pós-vendaAtendimento pós-venda XX
AtualizaçõesAtualizações XX
Aspectos adicionaisAspectos adicionais XX
Pontuação obtidaPontuação obtida 1616
5 = pleno 4 = bem 3 = razoável 2 = mal 1 = não atende
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 25/34)
Aspectos econômicosAspectos econômicos CUNCUN QQ CUTCUT ObservaçõeObservaçõess
Investimento inicialInvestimento inicial
Custos de aquisiçãoCustos de aquisição
Custos de preparaçãoCustos de preparação
Total do investimentoTotal do investimento
Custos operacionais:Custos operacionais:
a) estabilização do a) estabilização do ambienteambiente
b) mão de obrab) mão de obra
c) insumosc) insumos
d) manutenções e d) manutenções e calibraçõescalibrações
e) depreciaçãoe) depreciação
f) imobilização de capitalf) imobilização de capital
Custo operacional total:Custo operacional total:CUN = custo unitário Q = quantidade CUT = custo total
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 26/34)
Aspectos EconômicosAspectos Econômicos
1.1. Investimento InicialInvestimento Iniciala)a) Custos de aquisiçãoCustos de aquisição
- do SM, dispositivos e acessóriosdo SM, dispositivos e acessórios- impostos, fretes e desembaraços (importação)impostos, fretes e desembaraços (importação)
b)b) Custos de preparaçãoCustos de preparação- climatização e estabilização do ambiente de climatização e estabilização do ambiente de
mediçãomedição- dispositivos e acessórios especiais dispositivos e acessórios especiais - treinamento e qualificação de operadorestreinamento e qualificação de operadores
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 27/34)
Aspectos EconômicosAspectos Econômicos
2.2. Custo OperacionalCusto Operacionala)a) Estabilização das condições ambientais:Estabilização das condições ambientais:
- climatização, limpeza, energização.climatização, limpeza, energização.
b)b) Mão de obra:Mão de obra:- custos diretos e indiretos;custos diretos e indiretos;- grau de especialização;grau de especialização;- treinamentos periódicos.treinamentos periódicos.
c)c) Insumos:Insumos:- consumíveis e energia.consumíveis e energia.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 28/34)
Aspectos EconômicosAspectos Econômicos
2.2. Custo Operacional (continuação)Custo Operacional (continuação)d)d) Manutenções e calibrações:Manutenções e calibrações:
- regulares e emergenciais.regulares e emergenciais.
e)e) Depreciação:Depreciação:- degradação com uso regular.degradação com uso regular.
f)f) Imobilização do capital:Imobilização do capital:- perda de receita devido à imobilização de capital.perda de receita devido à imobilização de capital.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 29/34)
Aspectos econômicosAspectos econômicos CUNCUN QQ CUTCUT ObservaçõeObservaçõess
Investimento inicialInvestimento inicial
Custos de aquisiçãoCustos de aquisição
Custos de preparaçãoCustos de preparação
Total do investimentoTotal do investimento $$$$$$$$
Custos operacionais:Custos operacionais:
a) estabilização do a) estabilização do ambienteambiente
b) mão de obrab) mão de obra
c) insumosc) insumos
d) manutenções e d) manutenções e calibraçõescalibrações
e) depreciaçãoe) depreciação
f) imobilização de capitalf) imobilização de capital
Custo operacional total:Custo operacional total: $$$$$$$$CUN = custo unitário Q = quantidade CUT = custo total
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 30/34)
Juntando Tudo ...Juntando Tudo ...
1.1. Verifique os Aspectos Técnicos:Verifique os Aspectos Técnicos:- descarte os SMs que não atendem um ou descarte os SMs que não atendem um ou
mais aspectos técnicos relevantes;mais aspectos técnicos relevantes;- considere uso de mais de um SM para considere uso de mais de um SM para
atender a velocidade de medição;atender a velocidade de medição;- pontue os SM candidatos aprovados.pontue os SM candidatos aprovados.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 31/34)
Juntando Tudo ...Juntando Tudo ...
2.2. Verifique os Aspectos Logísticos:Verifique os Aspectos Logísticos:- descarte os SMs que não atendem um ou descarte os SMs que não atendem um ou
mais aspectos logísticos relevantes;mais aspectos logísticos relevantes;- pontue os SM candidatos aprovados.pontue os SM candidatos aprovados.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 32/34)
Juntando Tudo ...Juntando Tudo ...
3.3. Verifique os Aspectos Econômicos:Verifique os Aspectos Econômicos:- considere o investimento inicial e os custos considere o investimento inicial e os custos
operacionais em um período de tempo operacionais em um período de tempo conveniente;conveniente;
- se necessário, considere uso de mais de um se necessário, considere uso de mais de um SM para atender as demandas da medição;SM para atender as demandas da medição;
- calcule os custos totais.calcule os custos totais.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 33/34)
Juntando Tudo ...Juntando Tudo ...
4.4. O SM Selecionado Deve:O SM Selecionado Deve:- melhor atender os três grupos de critérios melhor atender os três grupos de critérios
simultaneamente;simultaneamente;- é possível tomar a decisão com base em um é possível tomar a decisão com base em um
índice calculado a partir das pontuações e índice calculado a partir das pontuações e custos envolvidos. Diferentes pesos devem custos envolvidos. Diferentes pesos devem ser atribuídos em função das conveniências;ser atribuídos em função das conveniências;
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 34/34)
Tabela ComparativaTabela Comparativa
SM candidatoSM candidato AspectoAspectos s
técnicostécnicos
AspectoAspectos s
logísticologísticoss
Invetim. Invetim. inicialinicial
Custos Custos operac.operac.
Pontuação Pontuação e e
observaçõeobservaçõess
AA aa aaaa aaaaaa aaaaaaaa aaaaaaaaaa
BB bb bbbb bbbbbb bbbbbbbb bbbbbbbbbb
CC cc cccc cccccc cccccccc cccccccccc
DD dd dddd dddddd dddddddd dddddddddd
EE ee eeee eeeeee eeeeeeee eeeeeeeeee
FF ff ffff ffffff ffffffff ffffffffff