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UNIVERSIDADE TECNOLÓGICA FEDERAL DO PARANÁ PROGRAMA DE PÓS-GRADUAÇÃO EM ENGENHARIA ELÉTRICA E INFORMÁTICA INDUSTRIAL CPGEI FREDERICO MARIANO AGUIAR TOMOGRAFIA POR RESISTÊNCIA ELÉTRICA PARA FORMAÇÃO DE MAPAS DE CONDUTÂNCIAS DISSERTAÇÃO CURITIBA 2015

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UNIVERSIDADE TECNOLÓGICA FEDERAL DO PARANÁ

PROGRAMA DE PÓS-GRADUAÇÃO EM ENGENHARIA ELÉTRICA E

INFORMÁTICA INDUSTRIAL – CPGEI

FREDERICO MARIANO AGUIAR

TOMOGRAFIA POR RESISTÊNCIA ELÉTRICA PARA FORMAÇÃO

DE MAPAS DE CONDUTÂNCIAS

DISSERTAÇÃO

CURITIBA

2015

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FREDERICO MARIANO AGUIAR

TOMOGRAFIA POR RESISTÊNCIA ELÉTRICA NA FORMAÇÃO DE

MAPAS DE CONDUTÂNCIAS

Dissertação de mestrado apresentada ao Programa

de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica e

Informática Industrial da Universidade Tecnológica

Federal do Paraná, como requisito parcial para

obtenção do grau de “Mestre em Ciências” – Área

de concentração: Engenharia de Automação e

Sistemas.

Orientador: Prof. Daniel Rodrigues Pipa, Dr.

Co-orientador: Prof. Marco José da Silva, Dr.

CURITIBA

2015

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DEDICATÓRIA

Dedico este Trabalho a minha esposa,

Alcione e ao meu filho José;

E toda minha família.

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AGRADECIMENTOS

Agradeço primeiramente meu orientador Dr. Daniel Rodrigues Pipa e pela

oportunidade dada, por sua dedicação e orientação, e também o co-orientador Marco José da

Silva, pela ideia inicial e por toda sua colaboração.

A minha esposa Alcione por toda sua paciência e sabedoria e ao meu filho José que

é uma luz no nosso caminho.

Aos meus pais Rui e Rosa que apesar da distância deram apoio e incentivo para

realizar este metrado.

Ao meu irmão, Vinicius, às minhas irmãs Priscila e Ana Cecilia, pelo apoio e

amizade.

Aos amigos e colegas do Laboratório de Sensores e Instrumentação Industrial que de

alguma forma contribuíram no desenvolvimento deste trabalho: Eduardo Nunes dos Santos,

Frederico Mariano Aguiar, Greg José dos Santos, Jean Nakatu Longo, João Paulo Bazzo,

Murilo Gabardo Kramar, Tiago Piovesan Vendruscolo.

Ao pessoal do Núcleo de Escoamentos Multifásicos que de alguma forma

colaboraram na realização do trabalho.

Ao Concelho Nacional de Desenvolvimento Cientifico e Tecnológico pela bolsa

concedida durante o desenvolvimento deste trabalho.

Enfim, a todos que de alguma forma contribuíram para a realização desta pesquisa.

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RESUMO

A tomografia por resistência elétrica (ERT) é uma técnica destinada a estimar a

distribuição interna de condutividade de um corpo através de medições na periferia. Em

aplicações médicas, o objetivo é detectar algum distúrbio de saúde em diferentes diagnósticos

comumente utilizados para exames médicos. Em aplicações industriais, a ERT se destina a

levantar características internas do objeto para detectar alguma anomalia em variação de

alguma grandeza. Uma aplicação industrial notável é a medição de temperatura de gases,

porque consegue pode monitorar processos industriais.

Neste trabalho, foi proposta uma abordagem alternativa para estimar condutâncias

numa rede ou grade de resistências, na qual apenas os elementos periféricos são acessíveis

para medições. Diferente das abordagens existentes, onde o meio é considerado contínuo,

propõe-se discretizar o meio em elementos de resistência. O princípio de medição baseia-se

na injeção de corrente elétrica conhecida em determinados pontos e posterior estimava de

todas as condutâncias da rede apenas através medições de tensões periféricas.

O sensor para prova de conceito é composto por resistências soldadas entre si. Com

o intuito de modelar o comportamento do sensor, foram feitas simulações elétricas. Para

validar o desenvolvimento, foi construída uma fonte de corrente e um software onde é

possível salvar os dados adquiridos. A montagem completa também inclui uma placa de

aquisição de sinais e um algoritmo de reconstrução.

Uma vez que a relação entre os valores de condutância e de medição de tensão é

não linear, a solução para o problema inverso inclui linearização iterativa, sendo necessário à

atualização da matriz de sensibilidade a cada iteração.

Possíveis aplicações da técnica desenvolvida incluem qualquer sensoriamento

distribuído composto por transdutores que tenha a sua resistência elétrica variada em função

de outra grandeza (temperatura, pressão, etc.). As principais vantagens em relação a sensores

de temperatura é a capacidade de se desenvolver sensores robustos e a simplicidade de

medição.

Palavras-chave: Tomografia por Resistência Elétrica; Rede de Resistores;

Problemas Inversos; Sensoriamento Distribuído.

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ABSTRACT

Electrical Resistance Tomography is a technique aimed at estimating the inner

conductivity distribution of a phantom from boundary measurements. In medical

applications, the goal is to detect any medical condition. In industrial applications, the

objective is to detect any anomalous condition. A notable application is the determination of

gas temperature distribution.

This work proposes an alternative approach to determine all conductances in a

resistor network or grid where only boundary elements are accessible for measurements.

Differently from most existing approaches, where the medium is considered continuum, this

work proposes to discretize the medium in resistive elements. The basic principle is to inject

a known electrical current in certain points and estimate all conductances in the network from

only boundary voltage measurements.

The proof-of-concept sensor is composed by inter-welded resistors. For modeling

purposes, simulations were performed in Proteus. To validate the development, a current

source and a LabView software were developed. The complete setup includes a

reconstruction algorithm developed in Matlab.

Since the relationship between conductance values and voltage measurements is

nonlinear, the inverse problem requires an iterative linearization step, where a sensitivity

matrix is calculated at each iteration.

The main applications of the developed technique include any distributed sensor

based on resistive transducers such as temperature, pressure, etc. The advantages of the

proposed technique are the ability of design robust sensors as well as the simplicity of

measurements.

Keywords: Electrical Resistance Tomography; Resistor Network; Inverse Problems;

Distributed Sensing.

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LISTA DE FIGURAS

Figura 1: Mostra um sistema típico de tomografia elétrica, onde estão dispostos os sensores

ao redor do objeto, aquisição dos dados e um computado para mostrar as

imagens. Adaptado de (YORK, 2001)................................................................ .15

Figura 2: Eletrodos em volta do corpo humano. Fonte: DE CEZARO et al. (2012)............... .16

Figura 3: Dados obtidos pela EIT. Fonte: DE CEZARO et al., 2012...................................... .17

Figura 4: Disposição dos eletrodos em tomográfica por capacitância elétrica, sistema com 12

eletrodos. Adaptado de DA SILVA (2008)........................................................ .18

Figura 5: A estrutura de um sistema típico de tomografia de resistência eléctrica. Adaptado de

( DICKIN e WANG.,1996)................................................................................. 18

Figura 6: Diagrama esquemático: Problema Direto e o Problema Inverso. Adaptado de

(CONCA C., et al 2010)..................................................................................... .20

Figura 7: Grade de resistências elétricas e análise nodal....................................................... .23

Figura 8: Imagem reconstruída para um perturbação em um único elemento do mapa.

Adaptado de (GENÇER et al ., 1999)................................................................. 24

Figura 9: Reconstrução de imagens tomográficas de sensores resistivos mostrando os pontos

mais quentes. Adaptado de (BAROUDI; KAIPIO; SOMERSALO, 1999)........ 25

Figura 10: A distribuição da temperatura é representada nesta imagem reconstruída,

utilizando o algoritmo baseado em MCMC. Adaptado de (Baroudi et al.

1999).................................................................................................................. ..26

Figura 11: Grade de resistores de ordem k = 3. Os losangos representam aproximadamente a

região sensível a cada resistor (AGUIAR; PIPA; DA SILVA, 2014)................ .27

Figura 12: Exemplo do caso mais simples de grade de resistores, com quarto resistências..... 28

Figura 13: Esquema típico de Rede Neural. Adaptado de (AGUIAR; PIPA; DA SILVA,

2014)................................................................................................................... .32

Figura 14: Resultado na aproximação por iteração linear. Adaptado de (AGUIAR; PIPA; DA

SILVA, 2014)..................................................................................................... .33

Figura 15: Desempenho da Rede Neural para diferentes números de neurônios na camada

escondida. Adaptado de (AGUIAR; PIPA; DA SILVA, 2014).......................... 34

Figura 16: Comparativo das reconstruções iterativas linearizadas e abordagens RN. No

centro: distribuição real da condutância. À esquerda: reconstrução RN. Direita:

reconstrução linear iterativo. As três imagens superiores representam padrões de

pontos, enquanto que as últimas imagens representam uma distribuição

aleatória. Adaptado de (AGUIAR; PIPA; DA SILVA, 2014)............................ 35

Figura 17: Simulação da fonte de corrente no Proteus............................................................. 36

Figura18: Simulação da grade de resistores com as medidas das tensões em

volta..................................................................................................................... 37

Figura 19: Montagem do sistema. a) fonte de corrente, b) grade de resistores (sensor), c)

blocos conectores................................................................................................ .38

Figura 20: Diagrama de blocos, com todas as etapas............................................................... 38

Figura 21: Fonte de corrente do tipo Howland modificada. Adaptado de (GOHARIAN et al.,

2008)................................................................................................................... .40

Figura 22: Imagem da fonte de corrente do tipo Howland

modificada........................................................................................................... 40

Figura 23: Gráfico com os valores encontrados para a corrente, nos diferentes valores de

resistências.......................................................................................................... .42

Figura 24: Valores da tensão medida pela resistência.............................................................. 42

Figura 25: Fonte de corrente conectada a grade de resistores.................................................. 43

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Figura 26: Placa de aquisição NI PCI-6229............................................................................. .44

Figura 27: Interface gráfica do programa LabView................................................................. 45

Figura 28: Injeção da corrente da mesma forma que mede a tensão........................................ 47

Figura 29: Resultado da reconstrução utilizando o algoritmo.................................................. 48

Figura 30: Alteração da forma de injetar a corrente e manter a forma de medição da

tensão.................................................................................................................. .49

Figura 31: Resultado da reconstrução utilizando o algoritmo.................................................. 50

Figura 32: Matem a forma de injetar a corrente e altera a forma de medir a tensão................ 51

Figura 33: Resultado da reconstrução utilizando o algoritmo.................................................. 52

Figura 34: Altera a forma de injetar a corrente e altera a forma de medir a tensão................. .53

Figura 35: Resultado da reconstrução utilizando o algoritmo. Os valores iguais a “0” foi

devido ao algoritmo não conseguir convergir para este

teste................................................... ...................................................................54

Figura 36: Posição dos resistores na grade. Adaptado de (AGUIAR; PIPA; DA SILVA,

2014)................................................................................................................... .55

Figura 37: Mapa de Resistências alterando a resistência de 100 ohms para 510 ohms na

posição g13......................................................................................................... .56

Figura 38: Mapa de resistências alterando a resistência de 100 ohms para 510 ohms, da

posição g5 e g19.................................................................................................. 56

Figura 39: Mapa de Resistências alterando a resistência de 100 ohms para 510 ohms, da

posição g21 e g24................................................................................................ 56

Figura 40: Mapa de resistências alterando de 100 ohm para 510 ohm, da posição g12, g9, g13

e g16.................................................................................................................... 57

Figura 41: Mapa de resistências alterando de 100 ohms para 47 ohms, da posição 21........... .57

Figura 42: Mapa de resistências alterando a resistência de 100 ohms para 47 ohms, da

posição g16......................................................................................................... .58

Figura 43: Mapa de resistências alterando a resistência de 100 ohms para 47 ohms, da

posição g21 e g24................................................................................................ 58

Figura 44: Mapa de resistências alterando a resistência de 100 ohms para 47 ohms, da

posição g18 e g24................................................................................................ 59

Figura 45: Mapa de resistências alterando a resistência de 100 ohms para 47 ohms, da

posição g13 e g16................................................................................................ 59

Figura 46: Mapa de resistências alterando a resistência de 100 ohms para 47 ohms, da

posição g5 e g19.................................................................................................. 60

Figura 47: Mapa de resistências alterando a de 100 ohms para 47 ohms, da posição g 12, g9,

g13 e g16............................................................................................................. 60

Figura 48: Mapa de resistências alterando a resistência de 100 ohms para 300 ohms, da

posição g6........................................................................................................... .61

Figura 49: Mapa de resistências alterando a resistência de 100 ohms para 180 ohms, da

posição g17......................................................................................................... .61

Figura 50: Mapa de resistências alterando de 100 ohms para 510 e 180 ohms nas posições

g15 e g17............................................................................................................. 62

Figura 51: Mapa com todos os resistores iguais a 47 ohms e alterando algum resistor para

circuito aberto de forma aleatória....................................................................... .62

Figura 52: Simulação no Proteus 8.0 para todos os valores das resistências iguais a 100 ohms,

com corrente entre os nós 1 e 2...........................................................................70

Figura 53: Simulação e esquemático elétrico no Proteus 8......................................................72

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LISTA DE TABELAS

Tabela 1: Sumário das propriedades da grade..........................................................................28

Tabela 2: Abordagem das vantagens e desvantagem para cada reconstrução.........................34

Tabela 3: Valores comerciais das resistências, valores medidos, tensão medida no resistor

Shunt e corrente calculada pela queda de tensão neste resistor..........................40

Tabela 4: Valores medidos nas resistências para todos os resistores iguais, com corrente entre

os nós 1 e 2..........................................................................................................66

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LISTA DE SÍMBOLOS

A Matriz de Sensibilidade

Z Impedância

G Condutância

I Corrente

V Tensão

R Resistência elétrica

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LISTA DE ACRÔNIMOS

DAQ Data acquisition

ECT Electric Capacitance Tomography

EIT Electric Impedance Tomography

ERT Electric Resistance Tomography

FEM Métodos do Elemento Finito

FCCT Fonte de corrente controlada por tensão

PI Problema Inverso

PD Problema Direto

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SUMÁRIO

1 INTRODUÇÃO ..................................................................................................................13 1.1 MOTIVAÇÃO ...................................................................................................................13 1.2 OBJETIVOS ......................................................................................................................14 1.3 PUBLICAÇÕES ................................................................................................................14

2 REVISÃO BIBLIOGRÁFICA ..........................................................................................15 2.1 TÉCNICAS TOMOGRÁFICAS ELÉTRICAS .................................................................15 2.1.1 Tomografia por impedância elétrica .............................................................................16 2.1.2 Tomografia por capacitância elétrica ............................................................................17 2.1.3 Tomografia por resistência elétrica ...............................................................................18

2.2 PROBLEMAS INVERSOS ...............................................................................................19 2.3 TÉCNICAS PARA MEDIÇÕES DE CONDUTÂNCIAS ELÉTRICAS .........................21 2.3.1 Equacionamento de Circuitos Elétricos ........................................................................22

2.4 ESTADO-DA-ARTE .........................................................................................................23

3 DESENVOLVIMENTO TEÓRICO DO SENSOR ........................................................27 3.1 SENSOR RESISTIVO DE TOMOGRAFIA ELÉTRICA ................................................27 3.2 RECONSTRUÇÃO TOMOGRÁFICA .............................................................................29 3.3 RESULTADOS .................................................................................................................33

4 DESENVOLVIMENTO PRÁTICO .................................................................................36 4.1 SIMULAÇÕES ..................................................................................................................36

4.2 AQUISIÇÃO DE SINAIS .................................................................................................37

4.2.1 Hardware .......................................................................................................................37 4.2.2 Fonte de Corrente Controlada por Tensão (FCCT).......................................................38 4.2.3 Placa de Aquisição de Dados (DAQ) ............................................................................43

4.2.4 Software ........................................................................................................................44

5 RESULTADOS E DISCUSSÕES .....................................................................................46 5.1 AVALIAÇÃO DA SENSIBILIDADE EM FUNÇÃO DA ESTRATÉGIA DE

MEDIÇÃO ................................................................................................................................46 5.2 TESTE NA GRADE DE RESISTORES ...........................................................................54

6 CONCLUSÃO ....................................................................................................................63

REFERÊNCIAS ......................................................................................................................65 APÊNDICE A – Simulação da grade de resistores com corrente sendo injetada. ...........70 APÊNDICE B - Esquema elétrico da fonte de corrente. .....................................................72

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1 INTRODUÇÃO

1.1 MOTIVAÇÃO

Nas ultimas décadas, a tomografia por resistência elétrica (ERT – do inglês,

electrical resistance tomography) tem se desenvolvido de forma a alcançar imagens cada vez

mais nítidas, mais rápidas e mais precisas (TAPP et al., 2003). É uma das modalidades mais

comuns em processos industriais e tem progredido bastante desde que foi criada na década de

1980. Devido às várias vantagens, como alta velocidade, baixo custo, e pelo fato de não ser

intrusivo, a ERT tornou-se uma técnica promissora no acompanhamento de diversos

processos industriais, fornecendo imagens de condutividade e sendo capaz de medir alguns

parâmetros de fluxos, como distribuição de gás e identificação de regimes (BAROUDI;

SOMERSALO, 1999) (LUCAS et al., 1999).

A tomografia por impedância elétrica (EIT) explora as interações dos campos

elétricos nos materiais. Essa técnica pode ser dividida em duas categorias: uma que explora a

permissividade elétrica da matéria, chamada de tomografia de capacitância (ECT – do inglês,

electrical capacitance tomography), e outra que explora a condutividade da matéria, chamada

de tomografia de resistência elétrica (MARASHDEH et al., 2007) (CAO et al., 2007). Neste

trabalho será abordada a tomografia de resistência elétrica (ERT). Optou-se por utilizar uma

grade de resistores formando um sensor, onde as resistências estão cruzadas e soldadas entre

si. Inicialmente proposto para a visualização dos mapas de condutâncias, o sistema de

medição pode ser usado para o imageamento de pontos onde houver uma variação da

resistência/condutância ou qualquer outra variável física relacionada à variação da

resistência. A implementação desse sistema consiste na fabricação de hardware, software e

um algoritmo, para execução e controle das tarefas e formação das imagens tomográficas.

A ideia é estimar todas as resistências da grade através de medição de apenas tensões

periféricas. É explorado o fato de que, alterando-se qualquer resistência, as tensões medidas

também se alteram. Para tanto, é preciso utilizar algoritmos de reconstrução tomográfica. O

método foi testado utilizando dados simulados e dados medidos em um protótipo. Os testes

foram limitados à estimativa das resistências de uma distribuição estática.

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1.2 OBJETIVOS

1.2.1 Geral:

O objetivo deste trabalho é o desenvolvimento de um sistema capaz de medir as

resistências internas de uma grade de resistores a partir de medições na periferia. As

aplicações de tal sistema incluem qualquer sensoriamento distribuído cujos transdutores

apresentem variação de resistência elétrica.

Os objetivos específicos deste trabalho são:

Simulações para desenvolver a fonte de corrente e sensor resistivo.

Fabricação de uma fonte de corrente controlada por tensão operando

com saída DC;

Desenvolvimento de uma grade de sensores resistivos distribuídos em

forma de grade;

Desenvolvimento de um sistema de aquisição de sinais;

Desenvolvimento de um algoritmo para reconstrução dos mapas de

condutâncias;

Desenvolvimento da plataforma de visualização gráfica (software) no

LabView, para controle do sistema;

Teste do sistema para validação dos resultados.

O restante do texto está divido em cinco partes: revisão bibliográfica,

desenvolvimento do sensor, resultados e conclusão.

1.3 PUBLICAÇÕES

AGUIAR, F.M.; PIPA, D.R.; DA SILVA, M.J., "Discrete approach to electrical

resistance tomography with applications to distributed network sensing,"

Telecommunications Symposium (ITS), 2014 International , vol., no., pp.1,4, 17-20 Aug.

2014 doi: 10.1109/ITS.2014.6947988.

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2 REVISÃO BIBLIOGRÁFICA

Este capítulo aborda primeiramente técnicas tomográficas elétricas e resolução de

problemas inversos de modo a fundamentar o desenvolvimento do sistema proposto. Por fim,

é apresentado o estado-da-arte em aplicações industriais de tomografia por resistência

elétrica.

2.1 TÉCNICAS TOMOGRÁFICAS ELÉTRICAS

Técnicas tomográficas são técnicas utilizadas para gerar imagens de seções transversais

de objetos em estudo. Primeiramente foram utilizadas na área médica, onde são capazes de

gerar imagens internas da seção de um corpo humano para estudo (FIALHO RODRIGUES,

2007) e, com a evolução tecnológica, passou a ser utilizada em processos industriais.

Exemplos de aplicações incluem monitoramentos e medição de variáveis em processos

industriais, como investigar o interior de dutos de gases quentes, chaminés, tubulações, etc.

(BAROUDI; SOMERSALO, 1999). No que concerne à imagem tomográfica, trata-se de uma

imagem com duas dimensões de parte do objeto em estudo.

Como exemplo da técnica EIT, o sensor consiste na instalação de diversos sensores em

diferentes posições ao redor do objeto, como pode ser visto na Figura 1. Os dados são obtidos

medindo-se as tensões ao redor do objeto com base na injeção de correntes conhecidas. Para

reconstrução da imagem é necessária, a resolução do problema inverso a partir dos dados

adquiridos pelos eletrodos e da geometria do objeto em questão.

Figura 1: Sistema típico de tomografia elétrica, onde estão dispostos os sensores ao redor do objeto,

aquisição dos dados e um computado para mostrar as imagens. Adaptado de (YORK, 2001).

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2.1.1 Tomografia por impedância elétrica

A técnica de Tomografia por Impedância Elétrica (EIT) é uma das mais estuda em

aplicações biomédicas. O primeiro sistema de EIT para aplicações médica foi criado por

Henderson e Webster (1978). A tomografia baseada em propriedades elétricas tem se

mostrado mais barata do que outras técnicas de tomografia, como por exemplo, as

tomografias de raio X, óptica, ultrassom, entre outras, formando imagens com nitidez

suficiente para várias aplicações (PEYTON, BECK, et al. 1999).

A EIT explora a interação dos campos elétricos quando aplicados em um determinado

material. Tem como objetivo principal reconstruir a distribuição das impedâncias internas de

algum objeto a partir de medições nas fronteiras (MARASHDEH et al., 2007), (CAO et al.,

2007). Como a impedância elétrica varia conforme as caraterísticas internas do objeto, as

imagens finais representam alguma propriedade interna do objeto em estudo.

A reconstrução de imagens na EIT é um problema não linear onde a solução se dá por

resolução de um problema inverso (KIM et al., 2005). Apenas medindo-se a tensão na

periferia do objeto em estudo Figura 2, é pouco provável que na prática consiga-se medir

todos os dados sobre esse objeto. Assim, o problema de reconstrução possui um

conhecimento limitado de dados, já que não tem acesso às demais informações internas. As

Figuras 2 e 3 mostram exemplos reais da EIT.

Figura 2: Eletrodos em volta do corpo humano para formação de imagens interna. Fonte: DE CEZARO

et al., (2012).

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Figura 3: Imagem reconstruída resultante da realização da EIT em volta do corpo. Dados obtidos pela

EIT onde a escala ao lado mostra a condutividade dos pulmões. Fonte: DE CEZARO et al., (2012).

Em geral, a técnica EIT é dividida em tomografia por resistência elétrica (Electric

Resistance Tomography - ERT) e tomografia por capacitância elétrica (Electric Capacitance

Tomography - ECT). Com frequência assume-se que a parte resistiva é predominante na

impedância e, nesse caso, a distribuição estimada é através da ERT e ocorre na faixa de baixa

frequência (KIM et al., 2005). EIT é feita quando ambas as resistências e capacitâncias são

medidas.

2.1.2 Tomografia por capacitância elétrica

A tomografia por capacitância elétrica (ECT) é uma técnica amplamente utilizada

para determinar a formação de imagens da distribuição da permissividade elétrica de um

objeto. Em processos industriais onde os meios utilizados não são condutor, as aplicações

tendem a considerar a ECT (BROWN, 2001), (YORK, 2001). Algumas das aplicações

incluem medição de fluxo em tubos, medição da concentração de fluídos (TAPP et al., 2003),

(ISMAIL et al., 2005), ou a distribuição de um sólido em um fluído (JAWORSKI;

DYAKOWSKI, 2001).

Um campo elétrico é aplicado pelos eletrodos transmissores e a corrente elétrica é

monitorada nos eletrodos receptores. Os sinais são adquiridos por um computador fazem o

interfaceamento com algum algoritmo de reconstrução de imagens. Os eletrodos de medição

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são placas condutoras normalmente em número de oito ou doze, conforme Figura 4. A

resolução espacial do sistema ECT depende principalmente do número de sensores.

Figura 4: Disposição dos eletrodos em tomográfica por capacitância elétrica, sistema com 12 eletrodos.

Adaptado de (DA SILVA 2008).

2.1.3 Tomografia por resistência elétrica

O principal objetivo da ERT é determinar a distribuição de condutividade elétrica através

das medidas da tensão em volta da periferia do objeto medido. Uma corrente elétrica

conhecida é injetada e a partir de medições de tensão na periferia, um mapa de distribuição

das condutâncias elétricas é formado (DICKIN; WANG, 1996) e (TAMBURRINO;

RUBINACCI, 2002).

Na Figura 5 é possível identificar as três principais elementos de um sistema ERT: os

sensores do sistema, a aquisição de dados e sistema de reconstrução de imagens no

computador.

Figura 5: A estrutura de um sistema típico de tomografia de resistência eléctrica. Adaptado de ( DICKIN

e WANG, 1996).

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Normalmente, um par de eletrodos é estimulado por uma fonte de corrente e a diferença

de potencial resultante (tensão elétrica) é medida entre pares de eletrodos. A forma mais

comumente utilizada é estimular e medir entre os pares de eletrodos adjacentes.

2.2 PROBLEMAS INVERSOS

“O que são problemas inversos? Geralmente na

matemática tem-se uma equação e se deseja encontrar a

sua solução. Quando se estuda o problema inverso, tem-se

a solução e deseja-se encontrar a equação correspondente

(ou entrada do sistema)” (Julia Robinson).

A ERT no problema direto (PD), como exemplo, assume-se que a distribuição das

resistividade/condutância interior do corpo é conhecida e a partir disso determina-se os

potenciais elétricos na periferia (BARBER; BROWN, 1989). Para resolver o problema direto

é necessário encontrar a solução, dada uma ou mais variáveis, usando modelos matemáticos

adequados. Esses problemas normalmente conduzem a uma solução que não é afetada por

pequenas mudanças nos dados iniciais (CARLOS; AGUILAR, 2009).

Para resolver o problema direto em geral são utilizados métodos computacionais

como o método dos elementos finitos, método das diferenças finitas e o método das

impedâncias (RAMOS; WOLFF, 2011) ou, em alguns casos, técnicas de linearização

(COHEN-BACRIE; GOUSSARD; GUARDO, 1997).

Já no problema inverso (PI) estuda, as medidas observadas são convertidas em

informações sobre o objeto ou sistema em estudo. Tal qual a EIT, ERT, ECT descritos

anteriormente, o PI aparece em muitos ramos da ciência e da matemática, por exemplo, em

geofísica e ciências ambientais, explorações sísmicas (A. KIRSCH, 1996) (A.G. RAMM et

al., 1996), detecção de depósitos de petróleo, sedimentos e outras riquezas, monitoramento de

poluentes e no subsolo (ENGL, H.W, et al.,1996) e aplicações industriais, como testes não

destrutivos, identificação de parâmetros em processos indústrias (J.BAUMEISTER et al.,

2005), (GROESTSCH C.W,1993), (ISAKOV. V, 2006), tomografias aplicada para estimar

temperaturas de gases ou transferência de calor (BAROUDI; KAIPIO; SOMERSALO,

1999), (BAROUDI; SOMERSALO, 1997), entre outros.

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Outra definição do problema inverso é apresentada por Engl et.al (1996) onde ele diz:

“Resolver um problema inverso é determinar causas desconhecidas a partir de efeitos

desejados ou observados”. Nas observações geralmente ocorre imprecisão dos dados, que

podem estar contaminados com ruídos ou com erros experimentais, e também estar

incompletos. Já no problema direto, é necessário um conhecimento completo e preciso das

causas para determinar os efeitos de forma correta. Tais problemas podem ser entendidos

pelo diagrama esquemático da Figura 6.

A distinção entre um problema inverso e um problema direto para um dado fenômeno,

está ligada ao conhecimento do observador em interpretar a causa ou efeito que levou a este

fenômeno. É atribuída a Oleg Mikailivitch Alifanov pesquisador na área de problemas

inversos a seguinte frase: “A solução de um problema inverso consiste em determinar causas

baseada na observação dos seus efeitos”.

Figura 6: Diagrama esquemático, explicativo sobre como analisa o Problema Direto e o Problema

Inverso. Adaptado de ( CONCA C., et al 2010) .

Matematicamente, uma característica que diferencia um problema direto de um

inverso, é que os problemas inversos geralmente são mal posto ou mal colocados. Segundo

matemático Hadamard (1923), um problema é dito bem posto se cumprir todos os três itens

abaixo:

1. A solução existe;

2. A solução é única;

3. A solução tem uma dependência contínua dos dados iniciais.

Caso um desses pontos acima não seja atendido, o problema é dito mal posto.

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Em geral nenhuma das condições de Hadamard é atendida num problema inverso

(VELHO, 2005). Por isso, é necessário definir o problema e impor determinadas condições

para que seja possível obter resultados.

Os algoritmos de reconstrução de imagens utilizados nas técnicas tomográficas elétricas

determinam as características elétricas do material a partir dos resultados obtidos nas

medições. A maioria destes métodos para reconstrução de imagens é dividida em duas etapas:

o problema direto e o problema inverso. No primeiro as tensões são modeladas em função

das impedâncias presentes no sistema. No segundo consiste em inverter a relação obtida pelo

direto e obter as impedâncias (COHEN-BACRIE; GOUSSARD; GUARDO, 1997). A

solução é geralmente dada por métodos iterativos que, em essência repetem aproximações da

solução até atingir a convergência. Uma estratégia comum para resolver problemas desta

natureza é a linearização do problema.

2.3 TÉCNICAS PARA MEDIÇÕES DE CONDUTÂNCIAS ELÉTRICAS

A resistência elétrica, com unidade em ohm (Ω), é a oposição à passagem de

corrente elétrica em um condutor. O inverso da resistência é a condutância elétrica que

facilita a passagem de corrente elétrica, unidade é a Siemens (S). Pela lei de Ohm a

resistência elétrica (R) de um objeto é definida pela relação entre a tensão (v) e a corrente (i).

Assim, relacionando-se a resistência e a condutância, as equações ficam:

v

Ri

(2.1)

1i

Gv R

(2.2)

A condutância também está relacionada com a impedância através da admitância,

inverso da impedância. A impedância complexa é dada por:

( )v i Zj jv

Z e Z ei

(2.3)

sendo Z a magnitude e Z a fase da impedância.

A impedância representada na forma coordenada retangulares é dada por:

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Z R jX

(2.4)

onde R representa à parte resistiva da impedância e X a parte reativa.

No presente trabalho, o circuito de alimentação é em corrente continua (CC) e,

portanto, a parte imaginária é desconsiderada, sobrando somente a real.

2.3.1 Equacionamento de Circuitos Elétricos

Para equacionar um circuito elétrico, é necessário criar um sistema de equações

lineares com base nas leis de Kirchhoff. Para a análise do circuito há dois tipos de equações:

as nodais ou equações de "nó", definidas pela Lei das Correntes de Kirchhoff, e as equações

de "malha", definidas pela Lei das Tensões de Kirchhoff.

A lei de Kirchhoff das correntes afirma que a soma das correntes que entram em um

nó são iguais às que saem do nó

0K

k Nó

i

,

(2.5)

com N nós, que podem ser convertidos em forma de matriz,

Gv i ,

(2.6)

onde G é a matriz de condutâncias, v é o vetor das tensões nodais e i é o vetor das fontes de

corrente em cada nó.

A lei de Kirchhoff das tensões estabelece que a soma das tensões em um circuito

fechado é igual à zero.

0K

k Malha

v

,

(2.7)

com N malhas, que pode ser convertidos em forma de matriz,

Ri v ,

(2.8)

onde R é a matriz de resistências, i é o vetor das correntes nas malhas e v é o vetor das

tensões nas malhas. No presente trabalho foi utilizado o método dos nós por gerar menos

equações em uma grade de resistências como na Figura 7.

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Figura 7: Grade de resistências elétricas e análise nodal.

2.4 ESTADO-DA-ARTE

A ERT vem sendo utilizada por uma variedade de aplicações em diferentes domínios

como processos tomográficos (XIE et al., 1991) (WILLIAN et al., 1995), ensaios não

destrutivos (LESSELIER et al., 1999), prospecção geofísica (DINE et al., 1981)

(MOLYNEUX et al., 1994), imagens biomédicas (BARBER; BROWN, 1989) (CHENEY;

ISAACSON; NEWELL, 1999) e processos industriais (DICKIN; WANG, 1996) (SHARIFI;

YOUNG, 2013).

Devido a sua complexidade e a impossibilidade de, na maioria dos casos, obter-se

uma solução analítica, uma das técnicas utilizadas para modelar o sistema (problema direto) é

o método do elemento finito FEM (Finite Element Method). Yorkey; Webster; Tompkins

(1987) utilizaram FEM para calcular os potenciais nos eletrodos de medição de um dado

conjunto de eletrodos, injetando corrente em determinada distribuição de impedâncias.

Porém, umas das desvantagens dessa técnica é a implementação ser complexa e exigir alto

nível de processamento.

No caso do problema inverso, por ser não-linear e mal posto, vários são os algoritmos

de reconstrução de imagens descritos na literatura. Algumas abordagens para resolver são

baseadas na aproximação de primeira ordem, que consiste em linearizar o operador que

mapeia a resistividade para os dados adquiridos (CHENEY; ISAACSON; NEWELL, 1999)

(PINHEIRO; LOH; DICKIN, 1998).

Gençer et al., (1999) apresentam uma resolução do problema direto e inverso pelo

método dos elementos finitos em um problema tomográfico. Nesse estudo, o PI foi resolvido

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com o método de Newton-Raphson, que utiliza linearizações iterativas ao redor da região de

condutividade estimada para o problema. Para tanto, uma matriz de sensibilidade A é gerada

por elementos finitos a cada iteração. Na Figura 8 pode-se observar a imagem reconstruída

para uma perturbação em um único elemento do mapa de condutividade.

Figura 8: Imagem reconstruída para uma perturbação em um único elemento do mapa. Neste caso

especifico o elemento está a 2,5 cm abaixo da superfície do corpo. A escala ao lado representa a

profundidade e está em metro. Adaptado de (GENÇER et al ., 1999).

Em (KERVINEN et al., 2004) (VAUHKONEN; KARJALAINEN; KAIPIO, 1998),

foi utilizado filtro de Kalman que é uma técnica para estimativa de temperaturas. O resultado

pode ser constatado na Figura 9. A técnica tem como vantagem apresentar propriedades auto-

regularizantes (J. BAUMEISTER AND A. LEITÃO, 2005), (H. W. Engl., et al,1996).

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Figura 9: Reconstrução de imagens tomográficas de sensores resistivos mostrando os pontos mais

quentes. A escala ao lado representa a temperatura em graus celsius. Adaptado de (BAROUDI; KAIPIO;

SOMERSALO, 1999).

Outro exemplo de reconstrução utilizando regularização é apresentado em Baroudi;

Kaipio; Somersalo (1999). Nesses estudos a formação dos mapas tomográficos de

temperatura dos pontos quentes são vistos como um problema de estimação de estado que

surgiram das análises de séries temporais. Também foi utilizado o filtro de Kalman, pois é

apropriado a problemas inversos dinâmicos.

Em aplicações industriais, Baroudi et al.(1997) utilizam ERT para determinar a

temperatura em dutos de gás quente através da variação da condutância. Utilizou-se

estimação baysiana e o método de Cadeias de Markov de Monte Carlo (MCMC) para formar

os mapas de temperatura. Nos estudos de Baroudi et al.(1999), o problema inverso para

estimar a distribuição da temperatura de gases baseia-se em medir resistências de fios que

sofreram variação com a passagem de gás quente. A estimativa dos mapas de temperatura

para está técnica é novamente realizada através de filtros de Kalman. A reconstrução das

imagens utilizando o algoritmo é mostrada na Figura 10.

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Figura 10: A distribuição da temperatura é representada nesta imagem reconstruída, utilizando o

algoritmo baseado em MCMC. As colunas ao lado das figuras representa a temperatura que o objeto foi

submetido. Adaptado de (Baroudi et al., 1999).

Uma revisão detalhada sobre técnicas de reconstrução tomográficas por resistência

elétrica pode ser encontrado em (LIU et al., 2015), (TAMBURRINO; VENTRE;

RUBINACCI, 2000) e (BORCEA, L et al,.2011).

A técnica proposta neste trabalho pode ser usada para adquirir dados de uma rede de

sensores distribuídos, como temperatura ou qualquer outra variável física relacionada à

variação da resistência. Aplicações potenciais deste método podem ser encontradas em

processos que monitoram o valor de resistências/condutâncias, por exemplo, áreas de

proteção contra incêndios, monitoramento de forno de incineração e reatores nucleares

(AGUIAR; PIPA; DA SILVA, 2014). Uma estratégia semelhante para detectar temperatura

foi recentemente proposta em (LOYOLA et al., 2013). Diferentemente da maior parte da

literatura, que considera o meio contínuo, neste trabalho será considerada uma versão

discretizada, representada por uma grade de resistores.

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3 DESENVOLVIMENTO TEÓRICO DO SENSOR

Este capítulo aborda o desenvolvimento teórico do sensor do ponto de vista

puramente matemático. É proposta uma abordagem discreta para tomografia de resistência

elétrica e métodos de reconstrução através de linearização iterativa e redes neurais. Serão

abordados o desenvolvimento do algoritmo e as simulações realizadas.

3.1 SENSOR RESISTIVO DE TOMOGRAFIA ELÉTRICA

Considera-se uma grade retangular de ordem K, onde a “ordem” indica o número de

resistores em cada linha ou coluna. A Figura 11 mostra o exemplo de uma grade de ordem

três, onde ig são as condutâncias associadas a cada resistor.

Figura 11: Grade de resistores de ordem k = 3. Os losangos representam aproximadamente a região

sensível a cada resistor (AGUIAR; PIPA; DA SILVA, 2014).

Utilizando-se a analise nodal da lei de Kirchhoff das correntes, a grade pode ser

equacionada como (N.J. : WILEY, 2011) como:

Gv i (3.1)

onde G é a matriz de condutâncias, v é o vetor da tensão nodal e i é o vetor da fonte corrente

aplicada em cada nó. Os elementos da diagonal G, iig , são iguais à soma de todas as

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condutâncias ligadas ao nó i. Os elementos fora da diagonal, ijg , são negativos da soma das

condutâncias conectadas entre os nós i e j. Como exemplo do caso mais simples da matriz de

condutâncias é mostrado na Figura 12 e equacionamento é dado em seguida.

Figura 12: Exemplo do caso mais simples de grade de resistores, com quarto resistências.

onde as condutâncias ligada ao nó em analise são positivas e as condutâncias fora do nó em

analise não negativas, mostrando que v em função de G.

.v iG

Portanto, a matriz G é simétrica. Um exemplo da matriz com notação Figura 11 fica

a c

b d a b c dg g g g g ,

e é dada por

4 4

1 1 4

1 5

1 2 2 5

0 0 0 0

0 0 0

g g g

G g g g g

(3.2)

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A Tabela 1 resume algumas características de uma grade retangular, ou seja, número de

condutâncias, número de nós, medições de tensão, etc., de acordo com a ordem da grade. Os

parâmetros da tabela 1 são do tamanho da grade de resistores.

Tabela 1: Sumário das propriedades da grade

Ordem da Grade K

Número de Condutâncias 2 ( 1)N K K

Número de Nós 2( 1)L K

Medição da Tensão 4M K

Medição total da Tensão 216K

Tensão efetivamente medida 4 2

2 8 2KC K K

3.2 RECONSTRUÇÃO TOMOGRÁFICA

Como mencionado anteriormente, o intuito foi estimar todas as condutâncias da grade

de resistores, dadas medições de tensão na periferia da mesma Figura 11. Este é um problema

não-linear (porque tenho condutâncias dividindo por condutâncias) e portanto não é

facilmente calculado por métodos de álgebra linear. Isso pode ser facilmente confirmado,

verificando que requer a estimativa da matriz G (3.1) em dada i e o vetor v, contendo apenas

medições periféricas. Além disso, o problema é dito como mal posto, porque o número de

medições é menor que o número de condutâncias presente na grade. Também, pelo fato das

condutâncias internas terem menor sensibilidade que as externas.

a) Solução Linearizada

Uma estratégia comum para resolver problemas desta natureza é a linearização do

problema. Uma vez, que a corrente injetada é conhecida e de valor fixo, e a medição de

tensão é em função do vetor de condutância, isto é:

( )f g v (3.3)

em que ( )f é uma função multivariável. Pode-se aproximar (3.3) por uma relação linear,

ou seja, dada por uma multiplicação do vetor-matriz. Portanto, pode ser escrito:

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Ag v (3.4)

onde A é chamada de matriz de sensibilidade, uma aproximação linear de ( )f em torno de

algum ponto . Esta matriz é também referida como Jacobiana, dada por:

f11

1

M M

1

f

f f

g g

g g

N

N

A

(3.5)

onde N é o número de condutâncias na grade e M é o número de tensão.

Com a finalidade de aumentar o número de medições de tensão em volta da grade de

resistores, injeta-se corrente em torno da grade nos pares de nós periféricos. Assim tem-se:

i iA g v

(3.6)

onde iA são matrizes de sensibilidade, quando a corrente é injetada por meio dos pares de

nós indexado por i. Além disso, pode-se agrupar todas as medições de diferentes locais de

injeção da corrente em um único sistema de equações:

Ag v (3.7)

1

2

p

A

AA

A

e

1

2

P

v

vv

v

, (3.8)

onde P = 4 K são consideradas todas as medidas possíveis.

Considerando o ruído Gaussiano aditivo para medições, é preciso resolver pelo

método dos mínimos quadrados,

2

2arg min p

g

g Ag v (3.9)

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em que 2

2 é a norma Euclidiana ao quadrado. Uma prática comum em soluções

linearizadas de problemas não lineares é iterar entre linearização (3.5) e a solução (3.9) até

atingir a convergência.

Basicamente, a solução consiste em duas etapas que são repetidas até que algum

critério de parada seja atingido: 1°) encontrar uma aproximação linear local para o problema

e 2°) atualizar a estimativa usando algum método de inversão linear.

Para calcular a aproximação linear, a cada condutância na grade é variada por um

pequeno valor, normalmente na ordem de 510 , e as tensões são recalculadas utilizando a

aproximação de (3.5), atualizando a cada elemento de A.

O passo de atualização foi feito por um gradiente descendente simples em (3.9)

1 K

T

K K pg g A Ag v (3.10)

onde μ é o tamanho do passo da atualização.

b) Solução por Rede Neural

Redes Neurais (RN) têm sido amplamente utilizadas para resolver problemas em

uma grande variedade de campos, incluindo matemática, psicologia, engenharia, dentre

outras áreas. A ideia é imitar matematicamente um comportamento do neurônio e

interconectar vários neurônios em rede para realizar operações complexas, como

classificação, mapeamento, agrupamento entre outras (S. HAYKIN, 1999). Na Figura 13, um

esquema típico para RN.

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Figura 13: Esquema típico de Rede Neural. Adaptado de (AGUIAR; PIPA; DA SILVA, 2014).

O neurônio básico de uma RN é uma entidade que recebe muitos estímulos de

excitação e os combina de forma não linear para gerar uma saída. Matematicamente,

podemos representar esta operação pela expressão (3.11):

k k

k

y w x

(3.11)

onde kx são as entradas, kw são os pesos, é alguma função de ativação não-linear e y é

à saída do neurônio.

A rede é treinada e aprende quando os pesos kw são ajustados, de modo que

relações específicas entre as entradas e saídas são alcançadas. Diversos métodos de

aprendizagem podem ser utilizados para ajustar adequadamente os pesos. Algumas

propriedades interessantes da RN são: não linearidade, mapeamento de entrada e saídas,

generalização e robustez (S. HAYKIN, 1999).

Neste trabalho, as redes neurais foram utilizadas para realizar a regressão linear

multivariável e resolver o problema da reconstrução tomográfica. Basicamente, a RN foi

treinada para aprender o mapeamento inverso não linear dado por (3.3).

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3.3 RESULTADOS

São apresentados resultados de reconstruções simuladas para uma grade de

resistências de ordem K=3 (24 elementos resistivos). As condutâncias foram escolhidas

aleatoriamente de uma distribuição uniforme entre 0 e 1.

a) Linearização Iterativa

A Figura 14 mostra curvas típicas da evolução do erro de acordo com as iterações

lineares para cada elemento da grade.

Figura 14: Resultado na aproximação por iteração linear. O tempo para formar os mapas foi de 7

segundos. Adaptado de (AGUIAR; PIPA; DA SILVA, 2014).

b) Rede Neural

Para realizar os experimentos, recorreu-se a Rede Neural (RN) Toolbox do

MATLAB. Foi utilizada a função nftool, que resolve problemas de ajuste de dados com redes

feed-forward de duas camadas treinadas pelo algoritmo de Levenberg- Marquardt.

As redes neurais foram treinadas com 500 pares de entrada-saída, onde as entradas

eram as medições das tensões periféricas e as saídas eram as condutâncias de cada elemento

resistivo. As condutâncias foram geradas aleatoriamente, enquanto que as tensões foram

calculadas pelo método das correntes de Kirchhoff. A dimensão dos vetores de entradas foi

de 144, o número de neurônios na camada de saída foi de 24 e o número de neurônios na

camada oculta foi variando para a avaliação do desempenho da RN.

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A Figura 15 mostra o desempenho médio para diferentes números de neurônios na

camada escondida. Cada erro médio quadrado (MSE do inglês) é uma média de 50

execuções.

Observa-se que ocorre um melhor desempenho até 24 neurônios. Quando ocorre

adição de mais neurônios ocorre uma diminuição no desempenho da rede. Esta redução no

desempenho é devido provavelmente ao efeito de overfitting. Ou seja, quando a rede se torna

excessivamente especializada por meio dos pares de formação, ela perde a capacidade de

generalização.

Figura 15: Desempenho da Rede Neural para diferentes números de neurônios na camada escondida. O

tempo para forma os mapas da RN depois de treinada era quase instantâneo. Adaptado de (AGUIAR;

PIPA; DA SILVA, 2014).

c) Comparação

A Figura 16 mostra imagens reais de distribuição da condutância (centro) e imagens

reconstruídas usando RN, 23 neurônios (à esquerda), e uma abordagem linear iterativa (à

direita). O padrão dos mapas gerados é visualmente bom para os dois métodos.

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A Tabela 2 resume as vantagens e desvantagem de cada abordagem de reconstrução

comparando entre a RN e a Solução Linear.

Tabela 2: Abordagem das vantagens e desvantagem para cada reconstrução.

Solução

Linear

Rede Neural

Velocidade de Reconstrução Lento Instantâneo

Tempo de Treinamento Nenhum Lento

Generalização para maiores

ordens

Simples Requer nova Rede Neural e

novo Treinamento

Figura 16: Comparativo das reconstruções iterativas linearizadas e abordagens RN. No centro:

distribuição real da condutância. À esquerda: reconstrução RN. Direita: reconstrução linear iterativo. As

três imagens superiores representam padrões de pontos, enquanto que as últimas imagens representam

uma distribuição aleatória. Adaptado de (AGUIAR; PIPA; DA SILVA, 2014).

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4 DESENVOLVIMENTO PRÁTICO

Este capítulo aborda aspectos práticos e de implementação do sistema desenvolvido.

Serão descritas simulações da fonte de corrente desenvolvida juntamente com a grade de

resistores e o hardware e software para aquisição de sinais.

4.1 SIMULAÇÕES

Com a finalidade de avaliar o comportamento da fonte de corrente juntamente com a

grade resistiva, foram realizadas simulações com o software comercial ‘Proteus’ versão 8.0.

A fonte foi testada e projetada com o objetivo de manter a corrente constante para diferentes

cargas. Na Figura 17 é mostrado o esquemático da fonte de corrente.

Figura 17: Simulação da fonte de corrente no Proteus.

A fonte de corrente desenvolvida é do tipo Howland modificada (BERTEMES-

FILHO; BROWN; WILSON, 2000). As simulações da grade de resistores foram feitas

conforme Figura 18, onde as medidas das tensões estão em torno da grade. Também foram

feitas simulações injetando a corrente em várias posições em torno da grade e medindo a

tensão em diferentes posições. Na seção 5.1 será descrito um estudo para avaliar se a forma

de injetar corrente ou medir influencia na sensibilidade das medidas.

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37

Figura 18: Simulação da grade de resistores com as medidas das tensões em volta.

Essas simulações serviram basicamente para validar o projeto da fonte de corrente e

validar o equacionamento da grade de resistores pela Lei das Tensões Nodais de Kirchhoff.

Como pode ser visto no anexo A, que os valores medidos e simulados são bem próximos,

como o protótipo proposto no item 3.1.

4.2 AQUISIÇÃO DE SINAIS

4.2.1 Hardware

Uma imagem de todo sistema montado pode ser observado na Figura19. O sistema é

constituído de uma fonte de corrente, dois blocos de conexão que interligam a placa para

aquisição de dados e o interfaceamento entre a grade de resistores e o computador. A placa é

responsável pela geração de sinal da tensão continuo para a fonte na sua parte transmissora, e

também aquisição e condicionamento dos sinais provenientes da grade de resistências na sua

parte receptora. O circuito elétrico desenvolvido da fonte de corrente pode ser visto no

apêndice A.

Na Figura20 pode ser visto o diagrama de blocos, com todas as etapas desse protótipo,

que será detalhado nos tópicos seguintes.

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38

Figura19: Montagem do sistema. a) fonte de corrente, b) grade de resistores (sensor), c) blocos

conectores.

Figura 20: Diagrama de blocos, com todas as etapas.

4.2.2 Fonte de Corrente Controlada por Tensão (FCCT)

Grande parte das fontes de corrente utilizadas em sistemas tomográficos são

projetadas e construídas utilizando as seguintes topologias: espelho de corrente, banco de

amplificadores com realimentação e Howland modificada (FRANCO, 2002) (BERTEMES-

a

b

c

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FILHO et al., 2000). Para este trabalho foi utilizada a fonte de corrente do tipo Howland com

um único amplificador operacional (amp op) com feedback negativo e positivo. Foi utilizado

este tipo de fonte pois ela é uma aplicação clássica para estes ensaios.

Um sinal de tensão continua, gerado pela placa PCI 6229 NI, é convertido em

corrente pela FCCT. A fonte de corrente tem um circuito ativo com capacidade de ajustar de

acordo com a carga.

A forma construtiva da FCCT é simples. O diagrama esquemático da fonte Howland é

mostrado na Figura 21. A corrente de saída do circuito Howland Il é dada pela equação 4.1

(ROSS et al., 2003):

2

1 4

R

inl

b

VI

R R (4.1)

A corrente de saída é independente da resistência da carga. A resistência de saída é dada

pela equação 4.2:

1 4 3 4

2 3 1 4 4

R R R R

R R R

b a

out

a b

RR R

(4.2)

Para o funcionamento adequado do circuito, a tensão voltage complice do amp-op deve

ser mantida constante para que a fonte de corrente apresente resposta linear. Nesse caso, o

voltage complice (Vsaturação) é calculado em relação à saída do amp-op de acordo com a

equação 4.3 (ROSS et al., 2003).

3 1 2 2

3 4 1 1

R

saturação l in

a

R R RV V V

R R R R (4.3)

onde Vsaturação é tensão máxima de saída do op-amp na operação linear, Vl é a tensão na carga

e Vin é a tensão de entrada. Na implementação desse circuito observou-se que a fonte saturava

para resistências acima de 2,2 k ohms (Rl), o que não afeta as medições deste trabalho, pois

nos experimentos foram consideradas resistências abaixo de 510 ohms.

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40

Figura 21: Fonte de corrente do tipo Howland modificada. Adaptado de ( GOHARIAN et al.,

2008) .

Figura 22: Imagem da fonte de corrente do tipo Howland modificada.

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41

O amplificador operacional utilizado foi o TL081 (BERTEMES-FILHO; BROWN;

WILSON, 2000) com a finalidade de converter a tensão fornecida pela placa PCI 6229 em

corrente, de acordo com o valor calculado. A escolha desse tipo de amp-op foi baseada no

baixo custo, alta velocidade, grande largura de banda e baixa tensão de deslocamento na

entrada.

Para avaliar a linearidade da fonte de corrente, foram feitos testes com dez tipos de

resistores diferentes, variando de 47 Ω até 2,2 kΩ. A fonte foi projetada para fornecer

corrente de 1 mA. Como observado na tabela 3 houve uma verificação e comparação com os

valores medidos.

Tabela 3 mostra os resultados para resistores comerciais (conferidos com o aparelho

Agilent E4980A em uma resolução de quatro casas decimais), bem como os valores da tensão

(conferidos com um multímetro de bancada fluk45 no resistor shunt). O valor da corrente foi

calculado de forma indireta, medindo-se a queda de tensão no resistor shunt. Pode-se

observar uma boa manutenção da corrente para diferentes valores de carga.

Tabela 3: Valores comerciais das resistências, valores medidos, tensão medida no resistor

Shunt e corrente calculada pela queda de tensão neste resistor.

Valor comercial

resistências

Valor medido

resistências

Tensão medida

(shunt) Corrente calculada

47 Ω 46,1277 Ω 0,04728 V 1,025 mA

100 Ω 98,3512 Ω 0,09998 V 1,017 mA

180 Ω 180,5755 Ω 0,18353 V 1,016 mA

300 Ω 299,5801 Ω 0,3044 V 1,016 mA

510 Ω 518,6351 Ω 0,5275 V 1,017 mA

1 k Ω 985,9033 Ω 1,0089 V 1,023 mA

1,2 k Ω 1,1866 kΩ 1,21 V 1,020 mA

1,6 k Ω 1,6177 Ω 1,6423 V 1,016 mA

1,8 k Ω 1,8278 kΩ 1,8595 V 1,017 mA

2,2 k Ω 2.1660 kΩ 2,2453 V 1,037 mA

A seguir são ilustrados os resultados das medições da fonte de corrente pela mudança

das resistências em forma gráfica Figura 23 e a variação da corrente de forma linear em

relação à tensão de entrada Figura 24, como a variação foi na quarta casa decimal não teve

impacto na medição da tensão. Uma imagem da fonte de corrente conectada à grade de

resistores é mostrada na Figura 25.

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Figura 23: Gráfico com os valores medidos para a corrente, nos diferentes valores de resistências. A linha

em azul é teórica só interligando os pontos.

Figura 24: Valores da tensão medida da tensão pela resistência. Esse gráfico mostra o quanto é linear a

reta de acordo com o aumento da resistência em função da tensão.

0,900

0,950

1,000

1,050

1,100

1,150

1,200

0 500 1000 1500 2000 2500

Co

rre

nte

(m

A)

Resistência (Ω)

TESTE DA FONTE DE CORRENTE

0

0,5

1

1,5

2

2,5

40 540 1040 1540 2040 2540

Ten

são

Me

did

a (

V)

Resistência (Ω)

MEDIDA DA TENSÃO PELA RESISTÊNCIA

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Figura 25: Fonte de corrente conectada a grade de resistores.

4.2.3 Placa de Aquisição de Dados (DAQ)

Utilizou-se a placa de aquisição de dados PCI-6229 Figura 26 fabricada pela

National Instruments (NI) e dois blocos conectores. Foi necessário utilizar dois blocos, pois

as medidas precisam ser diferenciais, portanto um bloco não tinha canais suficientes. O

primeiro bloco tem 16 canais e apenas oito medições diferenciais. Com a adição do segundo

bloco, totalizou-se 12 pontos de medição.

As principais características da placa PCI-6229 estão mostradas abaixo:

- Quatro saídas analógicas de 16 bits (833 kS/s);

- 48 E/S digitais; contadores de 32 bits, trigger digital;

- DIO correlacionado (32 linhas com clock, 1 MHz);

- A série M tem dispositivo de alta velocidade, com taxas de amostragens rápidas e

alta resolução;

- Certificado de calibração rastreável ao NIST;

- Driver de software NI-DAQmx e software interativo de data logging NI labVIEW

Signal Express.

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Figura 26: Placa de aquisição NI PCI-6229.

Conforme será explicado adiante na seção 4.2.4, através de parâmetros configuráveis

pelo usuário, essa placa é responsável por todo o controle dos sinais, incluindo o sinal DC

para o controle da corrente e os canais de medição.

4.2.4 Software

O software desenvolvido neste trabalho foi implementado através do programa

LabView. Ele é responsável pela geração de um sinal DC para a fonte de corrente, receber os

sinais da grade de resistores e armazenar os dados adquiridos para tratamento posterior. A

Figura 27 ilustra uma tela do software. Esse software é capaz de gerar sinal de onda

quadrada, triangular e principalmente continua, monitora a tensão em RMS, pico a pico e o

valor da tensão que está sendo injetando para a fonte. Também é possível selecionar a

quantidade de amostrar a ser adquirida e o numero de amostras por aquisição. Nele também

foi capaz de monitorar a injeção do sinal na fonte e ao mesmo tempo os valores lidos das

tensões em volta da grade de resistores.

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Figura 27: Interface gráfica do programa LabView.

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46

5 RESULTADOS E DISCUSSÕES

Neste capítulo serão apresentados os experimentos realizados para validar o sensor

desenvolvido. Os experimentos foram realizados com 24 resistências.

5.1 AVALIAÇÃO DA SENSIBILIDADE EM FUNÇÃO DA ESTRATÉGIA DE

MEDIÇÃO

Para determinar a melhor forma de medição, foram realizados quatro testes com a

grade de resistores, sendo todas as resistências de valores iguais. As tensões foram adquiridas

com um multímetro de bancada Fluck 45 com resolução de 1µ a 0,01 V e precisão de ±

0,025%. Para todos os teste e resultados a escala ao lado das figuras foram ajustado em no

máximo 600 e no mínimo 50 ohms.

a) Teste 1

Conforme ilustrado na Figura 28, nesse teste tanto a fonte de corrente quando as

medidas de tensão se dão sempre entre dois pontos adjacentes. Esse processo se repete

utilizando a solução linear iterativa até todas as combinações serem efetuadas. O resultado é

mostrado na Figura 29.

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Figura 28: Injeção da corrente da mesma forma que mede a tensão.

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48

Figura 29: Resultado da reconstrução utilizando o algoritmo.

b) Teste 2

Conforme ilustrado na Figura 30, nesse esquema a medição das tensões é sempre

feita entre dois pontos adjacentes. Porém, a injeção da corrente é feita fixando-se um dos

terminais da fonte e alternando-se o outro. Novamente, esse processo se repete até todas as

combinações serem efetuadas. O resultado da reconstrução é mostrado na Figura 31.

100

101

100

100

100

99

100

100

100

100

100

102

105

101

100

100

98

100

100

100

100

100

100

100

50

100

150

200

250

300

350

400

450

500

550

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Figura 30: Alteração da forma de injetar a corrente e manter a forma de medição da tensão.

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Figura 31: Resultado da reconstrução utilizando o algoritmo. Observa na Figura que tem vários valores

ruins mostrando que esta forma de medir não é a melhor. A cor do resistor é de acordo com o tamanho

dele.

c) Teste 3

Nesse esquema, fixa-se um dos terminais para medição das tensões. A corrente é

injetada sempre entre nós adjacentes. Repetem-se esses passos até que toda a periferia da

grade de resistores esteja coberta. O resultado da reconstrução é mostrado na Figura 33.

101

107

95

100

79

118

105

110

74

122

86

663

71

105

148

32

128

103

45

46

81

98

204

97

50

100

150

200

250

300

350

400

450

500

550

600

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Figura 32: Matem a forma de injetar a corrente e altera a forma de medir a tensão.

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Figura 33: Resultado da reconstrução utilizando o algoritmo. Para valores iguais a “0” a justificativa é

pelo fato da não convergência do algoritmo para este teste.

d) Teste 4

Nesse esquema, tanto a injeção da corrente quanto a medição das tensões têm um

dos terminais fixos, variando-se o outro até completar uma volta na grade. O resultado da

reconstrução é mostrado na Figura 35.

0

-0

-0

-0

-0

-0

-0

-0

0

-0

-0

0

0

-0

0

-0

0

-0

0

-0

0

0

0

-0

50

100

150

200

250

300

350

400

450

500

550

600

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Figura 34: Altera a forma de injetar a corrente e altera a forma de medir a tensão.

A partir dos resultados apresentados, a reconstrução que teve melhor resultado foi do

teste 1, Figura 29. Portanto, decidiu-se utilizar esse esquema de medição para os testes na

grade de resistores.

O mesmo esquema de medição foi o que teve maior sensibilidade em (DICKIN;

WANG, 1996). Como notado em (WILSON et al., 2001), o método de vizinhança ou

adjacente é um dos mais métodos conhecidos para aquisição de dados. De fato, a forma de

injetar corrente e medir a tensão têm grande importância no êxito na formação dos mapas.

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Figura 35: Resultado da reconstrução utilizando o algoritmo. Os valores iguais a “0” foi devido ao

algoritmo não conseguir convergir para este teste.

5.2 TESTE NA GRADE DE RESISTORES

Os ensaios que seguem foram feitos com o intuito de avaliar o algoritmo e comprovar a

sua validade. Nesses ensaios, a troca de resistores ocorreu de forma aleatória e para vários

pontos de medição diferente. Foram utilizados resistores com valores comerciais de 510, 180,

100 e 47 ohms com tolerância de ± 5%. A quantidade de iterações foi padronizada em 20

iterações e o tempo para forma os mapas foi de 7 segundos.

A Figura 36 mostra o diagrama esquemático com a localização das condutâncias. Da

Figura 37 a Figura 50, são mostrados diversos resultados alterando-se as resistências com

diversas combinações. Inicialmente todos os resistores são de 100 ohms e as legendas das

figuras indicam a mudança feita.

171

21

-5

128

-19

-20

-9

-1

-0

-0

-2

0

-0

0

0

0

0

0

0

-0

0

0

-0

-0

50

100

150

200

250

300

350

400

450

500

550

600

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Figura 36: Posição dos resistores na grade. Adaptado de (AGUIAR; PIPA; DA SILVA, 2014).

Figura 37: Mapa de Resistências alterando a resistência de 100 ohms para 510 ohms na posição g13.

100

100

100

100

100

100

100

100

100

100

100

100

526

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100

100

100

100

100

100

100

100

100

100

50

100

150

200

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350

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Figura 38: Mapa de resistências alterando a resistência de 100 ohms para 510 ohms, nas posições g5 e

g19.

Figura 39: Mapa de Resistências alterando a resistência de 100 ohms para 510 ohms, nas posições g21 e

g24.

100

100

100

100

512

100

100

100

101

100

100

100

101

100

100

101

100

100

522

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550

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100

101

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100

98

98

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98

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106

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99

101

100

100

100

100

100

511

100

100

527

50

100

150

200

250

300

350

400

450

500

550

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Figura 40: Mapa de resistências alterando de 100 ohm para 510 ohm, nas posições g12, g9, g13 e g16.

Figura 41: Mapa de resistências alterando de 100 ohms para 47 ohms, na posição 21.

100

100

100

100

100

100

100

100

521

100

100

530

521

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100

510

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100

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100

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100

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250

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350

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500

550

600

100

100

100

100

100

100

100

100

100

99

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101

99

100

100

99

100

100

100

100

47

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100

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100

150

200

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300

350

400

450

500

550

600

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Figura 42: Mapa de resistências alterando a resistência de 100 ohms para 47 ohms, na posição g16.

Figura 43: Mapa de resistências alterando a resistência de 100 ohms para 47 ohms, na posição g21 e g24.

100

100

100

100

100

100

100

100

100

100

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100

100

100

100

47

100

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100

100

100

100

100

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50

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150

200

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300

350

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450

500

550

600

100

100

100

100

100

100

100

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100

100

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100

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100

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100

100

100

47

100

100

47

50

100

150

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250

300

350

400

450

500

550

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Figura 44: Mapa de resistências alterando a resistência de 100 ohms para 47 ohms, nas posições g18 e

g24.

Figura 45: Mapa de resistências alterando a resistência de 100 ohms para 47 ohms, nas posições

g13 e g16.

100

100

100

100

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Figura 46: Mapa de resistências alterando a resistência de 100 ohms para 47 ohms, nas posições g5 e g19.

Figura 47: Mapa de resistências alterando a de 100 ohms para 47 ohms, nas posições g 12, g9, g13 e g16.

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Figura 48: Mapa de resistências alterando a resistência de 100 ohms para 300 ohms, na posição g6.

Figura 49: Mapa de resistências alterando a resistência de 100 ohms para 180 ohms, na posição g17.

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Figura 50: Mapa de resistências alterando de 100 ohms para 510 e 180 ohms nas posições g15 e g17.

Figura 51: Mapa com todos os resistores iguais a 47 ohms e alterando algum resistor para circuito aberto

de forma aleatória.

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6 CONCLUSÃO

O sensor resistivo desenvolvido neste trabalho explora variações de tensão elétrica

na periferia de uma grade de resistências, ocasionadas por mudanças de condutividade, para

estimar todas as condutâncias da grade através de técnicas de reconstrução de imagem. É

preciso resolver um problema inverso não linear e uma solução por redes neurais e outra por

linearizações iterativas foram apresentadas. Simulações foram realizadas para avaliar o

desempenho dos métodos e o comportamento do sensor. Foi considerada a solução por

linearizações iterativas para o restante do desenvolvimento por sua flexibilidade.

Para validação da técnica como prova de conceito, uma fonte de corrente construída

e um sistema de aquisição de dados foi utilizado. Uma grade onde os resistores podem ser

individualmente trocados também foi idealizada e montada. Partindo de todos os resistores da

grade de 100 ohms, foram feitas trocas aleatórias para diversos valores comerciais de

resistores.

Avaliou-se, primeiramente, a melhor estratégia de aplicação da corrente e leitura das

tensões periféricas. O método de vizinhança ou adjacente apresentou melhores resultados,

confirmando as indicações da literatura.

Em seguida, várias configurações foram testadas, mostrando bons resultados em

termos da identificação e medida da resistência elétrica do resistor alterado. As pequenas

diferenças em relação ao valor nominal das resistências podem ser atribuídas à tolerância

(precisão) dos resistores, ruídos eletrônicos, não convergência da reconstrução (em alguns

casos) devido a um número insuficiente de iterações do algoritmo, entre outros.

Em termos de aplicações, a técnica proposta poder ser usada para adquirir dados de

uma rede de sensores distribuídos, tais como monitoramento de temperatura ou qualquer

outra variável física relacionada à variação da resistência. Os objetivos propostos forma

atingidos, que foi a formação dos mapas de condutâncias. A principal contribuição deste

trabalho é a possibilidade de estimar condutâncias em uma grade de resistências a partir de

medições de tensões periféricas.

Entre os trabalhos futuros, destacam-se o desenvolvimento de um sistema para

chaveamento automático da fonte de corrente e medidas de tensão; construção de sistema

com fios de forma que possa ser inserido em local de passagem de gás quente ou frio; e

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aprimoramentos dos algoritmos de reconstrução de modo a se ter processamentos mais

rápidos e melhores resoluções.

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APÊNDICE A – SIMULAÇÃO DA GRADE DE RESISTORES COM

CORRENTE SENDO INJETADO.

Figura 52: Simulação no Proteus 8.0 para todos os valores das resistências iguais a 100 ohms, com

corrente entre os nós 1 e 2.

Na tabela 4 são mostrados todos os valores de medição das tensões, injetando corrente entre

todos os nós em volta da grade de resistores.

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Tabela 4: Valores medidos nas resistências para todos os resistores iguais, com corrente entre os nós 1 e 2, os valores medidos estão em mV.

Nós 1 e 2 Nós 2 e 3 Nós 3 e 4 Nós 4 e 8 Nós 8 e 12 Nós 12 e 16 Nós 16 e 15 Nós 15 e 14 Nós 14 e 13 Nós 13 e 9 Nós 9 e 5 Nós 5 e 1

1 70,23 -9,85 -3,13 -3,12 -2,68 -1,34 -1,34 -2,68 -3,12 -3,13 -9,83 -29,96

2 -6,47 67,15 -9,84 -9,84 -6,26 -2,69 -2,68 -4,47 -2,68 -2,69 -6,25 -9,83

3 -6,48 -9,86 70,31 -29,97 -9,71 -3,14 -3,12 -2,68 -1,34 -1,34 -2,69 -3,13

4 -3,11 -9,84 -29,99 70,19 -9,69 -3,13 -3,11 -2,68 -1,34 -1,34 -2,68 -3,12

5 -2,69 -6,27 -9,86 -9,84 67,7 -9,85 -9,8 -6,25 -2,68 -2,69 -4,47 -2,68

6 -1,34 -2,69 -2,92 -3,13 -9,48 70,33 -30 -9,85 -3,13 -3,14 -2,69 -1,34

7 -1,34 -2,68 -2,92 -3,12 -9,44 -30 70,16 -9,82 -3,12 -3,13 -2,68 -1,34

8 -2,68 -4,47 -2,18 -2,57 -6,25 -9,85 -9,81 67,04 -9,8 -9,84 -6,26 -2,68

9 -3,11 -2,68 -1,25 -1,33 -2,68 -3,13 -3,11 -9,81 70,08 -29,92 -9,81 -3,12

10 -3,13 -2,69 -1,33 -1,34 -2,69 -3,14 -3,12 -9,84 -29,91 70,22 -9,85 -3,13

11 -9,82 -6,29 -2,65 -2,7 -4,51 -2,69 -2,67 -6,25 -9,82 -9,85 67,07 -9,82

12 -29,95 -9,86 -2,99 -3,1 -2,68 -1,34 -1,33 -2,68 -3,12 -3,13 -9,82 70,19

Page 73: UNIVERSIDADE TECNOLÓGICA FEDERAL DO PARANÁ …repositorio.utfpr.edu.br/jspui/bitstream/1/1408/1/CT_CPGEI_M_Aguia… · realizar este metrado. Ao meu irmão, Vinicius, às minhas

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APÊNDICE B - ESQUEMÁTICO ELÉTRICO DA FONTE DE

CORRENTE.

Figura 53: Diagrama esquemático e layout de PCB no Proteus 8.