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RCBI Instrumentos LTDA 11 4311-8199 [email protected]

Aplicações com o System 8

Como o System8 pode ajudá-lo a testar e reparar suas placas?

Análise de placas eletrônicas com System8


Sobre o System 8

O SYSTEM 8 é um conjunto de ferramentas dedicados para testes, medidas, detecção de falhas em placas e componentes eletrônicos que possuam tecnologia analógica ou digital.

Os equipamentos da linha System 8 são modulares e podem ser adquiridos de acordo com suas exigências e necessidades. As descrições de cada módulo encontram-se nos slides a seguir.


Módulos para testes de placas da linha System8


Módulo para testes Analógicos (AICT)

Características do Módulo AICT:

Testes Funcionais de componentes Analógicos in-circuitEx: LM339,MC1458,TL061A, AD817AN e outros.

Testes funcionais de componentes discretosEx: BD202,BFC45,2N5192,BC848 e outros.

24 canais para Análise de assinatura (V-I)Teste comparativo.

24 canais para Análise de assinatura Matrix (V-I)Teste Comparativo.


Módulo para testes Digitais (BFL)

Características do Módulo BFL:

Teste Funcional de componentes Digitais in-circuitEx: 74HC14,54HC00,ULN2065 e outros.

Identificador de Circuitos Integrados.

Teste de análise de assinatura. (Digital V-I)

Gerador/Testador Lógico de até 256 canais.

Verificador de Eprom

Localizador de Curtos

Fonte controlada de 5 VDC e 5A para testes em TTL


Módulo para testes Digitais Avançados (ATM)

Características do Módulo ATM:

Teste Funcional de componentes Digitais in-circuitEx: 74HC14,54HC00,ULN2065 e outros.

Identificador de Circuitos Integrados.

Teste de análise de assinatura. (Digital V-I)

Capacidade de gerar, medir tensões e realizar teste V-I com até 2048 canais.

Testes de componentes da família ECL.

Localizador de Curtos

Testes em nível de placa (Testes GO – NO GO).


Módulo de Múltiplos Instrumentos (MIS3)

Características do Módulo MIS3:

Instrumentos padrões para análise de sinais:Osciloscópio,Multímetro Digital, Gerador de Funções, Frequencímetro.

Fonte Auxiliar .

Quatro canais analógicos I/O programáveis

Quatro canais digitais I/O programáveis

Customização de Instrumentos específicos


Módulo de Fonte (VPS)

Características do Módulo VPS:

Fonte Fixa de 6V DC e 5A programável.

Fonte Variável Positiva 0 a 24V e 1.5A.

Fonte Variável Negativa 0 a -24V e 1.5A

Fonte inteligente, trabalha em conjunto com outros módulos da ABI


Considere a seguinte (PCB)

Como você pode testar e reparar uma placa utilizando o System 8?

Opções de testes com módulos da linha System8


ANÁLISE COM MATRIX V-IAnálise profunda de assinatura

de componentes para busca de falhas.

TESTE DE COMPARAÇÕES DE SINAIS

Injete sinais e verifique a saída em diversos pontos da

placa

TESTE CUSTOMIZADOVerifique o funcionamento

de um relé através de instrumento personalizado

TESTE FUNCIONAL ANALÓGICOVerifique a funcionalidade de circuitos analógicos in-circuit.

ANÁLISE DE ASSINATURA (V-I)Verifique a integridade do

componente através da curva V-I

TESTE DE PLACASLeia, injete tensões ou realize o Teste V-I através de conectores

de borda

TESTE FUNCIONA DIGITALVerifique a funcionalidade do CI através da tabela da verdade.

ANÁLISE DE SINAISRealize medidas com

instrumentos padrões.

LOCALIZADOR DE CURTOS

Verifique curtos na placa.

VERIFICADOR DE CI’S

Verifique as conexões e curvas

V-I de PLD’s.

IDENTIFICAÇÃO DE CI’SIdentificador de circuitos

raspados.

VERIFICADOR DE EPROMFaça a leitura do

conteúdo de determinadas Eprom’s

FONTEAlimente sua placa e

verifique o consumo de corrente.

TESTE DINÂMICO DE SEMICONDUTORES V-T

Testes de dispositivos de portas ativados com o modo de pulsos

V-T

ANALISE DE ASSINATURA DE COMPONENTES DISCRETOS (V-I)

Detecte solda fria, e posições incorretas de capacitores e diodos.

TESTE FUNCIONAL DE COMPONENTE DISCRETO

Verifique a funcionalidade de um componente discreto .

TESTE COM GERADOR LÓGICO

Geração de vetores para testes de CI’s digitais.

Clique no teste para ver a descrição

Existem diversos tipos de testes que podem ser realizados


ANÁLISE COM MATRIX V-IAnálise profunda de assinatura

de componentes para busca de falhas.

TESTE DE COMPARAÇÕES DE SINAIS

Injete sinais e verifique a saída em diversos pontos da

placa

TESTE CUSTOMIZADOVerifique o funcionamento

de um relé através de instrumento personalizado

TESTE FUNCIONAL ANALÓGICOVerifique a funcionalidade de circuitos analógicos in-circuit.

ANÁLISE DE ASSINATURA (V-I)Verifique a integridade do

componente através da curva V-I

TESTE DE PLACASLeia, injete tensões ou realize o Teste V-I através de conectores

de borda

TESTE FUNCIONA DIGITALVerifique a funcionalidade do CI através da tabela da verdade.

ANÁLISE DE SINAISRealize medidas com

instrumentos padrões.


Verifique curtos na placa.

VERIFICADOR DE CI’S

Verifique as conexões e curvas

V-I de PLD’s.

IDENTIFICAÇÃO DE CI’SIdentificador de circuitos

raspados.

VERIFICADOR DE EPROMFaça a leitura do

conteúdo de determinadas Eprom’s

FONTEAlimente sua placa e

verifique o consumo de corrente.

TESTE DINÂMICO DE SEMICONDUTORES V-T

Testes de dispositivos de portas ativados com o modo de pulsos

V-T

ANALISE DE ASSINATURA DE COMPONENTES DISCRETOS (V-I)

Detecte solda fria, e posições incorretas de capacitores e diodos.

TESTE FUNCIONAL DE COMPONENTE DISCRETO

Verifique a funcionalidade de um componente discreto .

TESTE COM GERADOR LÓGICO

Geração de vetores para testes de CI’s digitais.

Clique no teste para ver a descrição


Sistema requerido: AICT

O que é ? O teste funcional analógico utiliza a programação pré existente na biblioteca do módulo AICT para verificar a funcionalidade de um componente analógico. O teste é realiizado com a placa alimentada, não necessita retirar o componente da placa (teste in-circuit).

Para que serve? Para verificar a funcionalidade de um circuito analógico sem retirá-lo da placa. O módulo analógico AICT monitora as conexões do circuito integrado para realização de um teste seguro.

CARACTERÍSTICAS DO S TESTES:

• Testes em loop, loop falso e loop verdadeiro (para encontrar falhas intermitentes)

• Programas de teste padrão para dispositivos genéricos

• Apropriado para testes com encapsulamentos DIL e SOIC

VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA:

• Verificar a funcionalidade de um CI: pass () ou fail ()

• Verificar se as interconexões estão corretas: abertos/curtos, links

• Verificar se as tensões estão corretas: tensões individuais em cada pino

• Revisar os resultados gerados: Janela de análise

Retornar para a placa de testes.Retornar para a placa de testes.

TESTE FUNCIONAL ANALÓGICO


O que é ? O teste funcional de componentes discretos utiliza uma programação pré existente na biblioteca do equipamento para verificar a funcionalidade de um dispositivo discreto analógico. Não necessita retirar o componente da placa para testá-lo. O teste é realizado com a placa desligada.

Para que serve? Verificar a funcionalidade de um componente discreto ( ex.: Transistores e diodos) sem retirá-lo da placa. O módulo analógico monitora as conexões do dispositivo para realização de um teste seguro.


• Testar um componente discreto: pass () ou fail ()

• Verificar se as interconexões estão corretas : abertos/ curtos, links

• Verificar cada terminal do componente: emissor, coletor etc.


TESTE FUNCIONAL DE COMPONENTES

DISCRETOS

CARACTERÍSTICAS DOS TESTES

• Teste em loop, loop falso e loop verdadeiro (falhas intermitentes)

• Programas de teste padrão para dispositivos genéricos

• Apropriado para testes de dispositivos DIL e SOIC

Sistema requerido: AICT



O que é ? Análise de assinatura tem como objetivo medir a resposta em corrente de um dispositivo quando colocado sobre uma tensão alternada (AC). É um teste realizado com a placa desligada utilizando geralmente o terra como referência.

Para que serve? Para analisar graficamente se a estrutura do componente está danificada, sem a necessidade de alimentá-lo ou retirá-lo da placa. Nas figuras abaixo temos exemplos de curvas V-I de componentes discretos.

VOCÊ PODE UTILIZAR ESTA TÉCNICA PARA:

• Verificar componentes invertidos : valor errado

• Verificar integridade física de componentes: Componente danificado

• Comparar curvas V-I entre componentes: Não precisa conhecer a funcionalidade do componente

• Testar placas em curto : Não tem a necessidade de alimentar a placaCARACTERÍSTICAS DOS TESTES:

• Comparação simultânea de componentes.

• Alerta de áudio quando ocorre alguma falha

• Visualização de tolerância da curva V-I

• Frequencia, tensão, impedäncia, e formas de ondas ajustáveis

ANÁLISE (V-I) PARA COMPONENTES DISCRETOS

Sistema Requerido : AICT



O que é? ? Análise de assinatura tem como objetivo medir a resposta em corrente de um dispositivo quando colocado sobre uma tensão alternada (AC). É um teste realizado com a placa desligada utilizando geralmente o terra como referência.

Para que serve? Para determinar a integridade física de um componente sem retirá-lo da placa. Na figura abaixo as curvas V-I de um CI de 14 pinos.


• Verificar se o componente foi montado invertido

• Verificar integridade física de componentes: Componente danificado

• Comparação de curvas V-I: Utilizando a função store

• Testar placas em curto : Não tem a necessidade de alimentar a placa para realizar o teste V-I.

CARACTERÍSTICAS DOS TESTES:

• Economia de tempo utilizando clipes de teste ao invés de probes individuais.

• Alerta de áudio quando ocorre alguma falha.

• Visualização de tolerâncias das curvas V-I

• Frequencia, tensão, impedância, e formas de ondas ajustáveis.

ANÁLISE DE ASSINATURA (V-I)

Sistema Requerido: AICT



O que é ? Matrix V-I é um teste comparativo realizado com a placa desligada, e tem como objetivo medir a resposta em corrente de um dispositivo quando colocado sobre uma tensão alternada (AC). Esse tipo de teste utiliza o próprio pino de um CI como referência ao invés do terra, desta maneira teremos por exemplo, uma análise V-I mais profunda de um circuito integrado.

Para que serve ? Realizar uma análise V-I mais profunda de um dispositivo sem a necessidade de retirar o componente da placa.

ANÁLISE COM MATRIX (V-I)


• Verificar se o componente está invertido na placa

Verificar integridade dos componentes: Componente danificado

• Realizar teste comparativo simultâneo

• Testar uma placa em curto: sem a necessidade de alimentar a placa ou usar o terra como referência para testes.CARACTERÍSTICAS DOS TESTES

• Armazenar as curvas adquiridas para futuras comparações

• Ajustes de tolerâncias da máscara de comparação

•Frequência, tensão, impedância e formas de ondas ajustáveis

• Adaptador para testes do componentes SMD’s PTH e PLCC.




O que é ? Com o teste diâmico de semicondutores conseguimos verificar se as portas de um SCR, por exemplo, estão sendo ativadas de maneira correta. Nesse teste é aplicada uma tensão variável entre dois nós, e um pulso no pino de trigger de um SCR. Quando o dispositivo é ativado, o sinal torna-se um curto, formando um dente de serra na forma de onda.

Para que serve ? O teste dinâmico verifica a ativação de um gate de um dispositivo, por exemplo, sem a necessidade de alimentar a placa.

VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA :

• Verificar a ativação do gate de um dispositivo.

• Verificar o nível de ativação : verificar se está sendo ativado com a tensão correta.


• Amplitude do pulso positivo e negativo ajustáveis

• Tempo do pulso ajustável

• Armazenagem dos resultados para futuras comparações

TESTE DINÂMICO DE SEMICONDUTORES




O que é ? O teste funcional de placas é uma combinação de testes de análise de assinatura V-I e medidas ou geração de tensões para entradas ou saídas de conectores de borda ou através de utilização de cama de prego.

Para que serve? Para verificar se uma placa eletrônica está funcionando por completa. Teste GO NOGO

VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA :

• Testar uma placa por completo

• Localizar a área do defeito rapidamente

• Executar testes em loop para verificar o

funcionamento das placas


• Testes com até 2048 canais

• Canal configurado como drive, medidas de tensão

e V-I.

• Fácil configuração

• Armazena os resultados para futuras comparações

TESTE FUNCIONAL DE PLACAS

Sistema Requerido : ATM



O que é ? Análise de sinais é realizado através de instrumentos padrões (Osciloscópio, multímetro, gerador de funções e frequencímetro) para aquisições de medidas de uma placa ou componente eletrônico.

Para que serve ? Para verificar os valores e especificações de um componente eletrônico.


• Verificar a validade do sinal: Sinal de clock ou valor tensão ou corrente

• Verificar o valor de um componente: resistência

• Gerar tensões analógicas ou sinais TTL


• Instrumentos customizáveis ( Crie o instrumento que você precisa)

• Máscara de comparação de sinais

• Calculadora (Utilize a calculadora para funções matemáticas)

• Data logging

ANÁLISE DE SINAIS

Sistema Requerido: MIS3



O que é ? O teste funcional digital permite que um circuito integrado digital seja testado sem a necessidade de retirá-lo da placa. Esse teste verifica a tabela da verdade do circuito integrado, sendo que, essa tabela da verdade fica armazenada na biblioteca dos equipamentos da linha System8.

Para que serve ? Para verificar a funcionalidade de um circuito integrado sem retirá-lo da placa. O módulo BFL e ATM monitoram as conexões do circuito integrado para realização de um teste seguro.

TESTE FUNCIONAL DIGITAL

Sistema Requerido: BFL / ATM


• Verificar a funcionalidade de um CI: pass () ou fail ()

• Verificar se as interconexões estão corretas: abertos/curtos, links.

• Verificar se as tensões estão corretas: tensões individuais em cada pino.




O que é ? Trata-se de um teste comparativo, permitindo que as conexões de um circuito integrado, além das análises de assinatura (V-I) de cada terminal sejam comparadas com uma máscara criada anteriormente.

Para que serve ? Para comparar dados adquiridos entre placas e circuitos integrados.


• Loop, Loop falso, loop verdadeiro

• Pode ser utilizado para testes de conectores de borda

• Utilizado também para testes DIL, SOIC, PLCC e QFP


• Verificr se um CI está conectado corretamente: abertos,curtols,links

• Verificar se as entradas e saídas de um circuito integrado estão danificados através do teste V-I

• Teste de um dispositivo desconhecido

VERIFICADOR DE CI


Sistema Requerido: BFL ou ATM


O que é ? O localizador de curto é utilizado para medir precisamente a impedância entre dois nós em uma placa.

Para que serve ? Para determinar a impedância de uma trilha ou localizar um curto na placa.


• Alerta de áudio dependendo da proximidade do curto

• Medida de impedância de até 0.1 OHM.

• Três níveis de impedância selecionáveis


• Determinar a localização de um curto

• Determinar a característica de uma trilha

• Verificar a continuidade entre dois pontos





O que é ? A fonte de alimentação da linha System 8 é configurável, oferecendo saídas negativas e positivas essenciais para processos de análise de falhas em placas e componentes.

Pra que serve ? A fonte do equipamento da linha System8 é utilizada para desenvolvimentos de Test Flow.

VOCÊ PODE UTILIZAR ESSE MÓDULO PARA:

• Alimentar uma placa

• Verificar o consumo de uma placa.

FONTE DE ALIMENTAÇÃO

Sistema Requerido: VPS



O que é ? O gerador/testador lógico utiliza uma combinação de sequências lógicas para injetá-los na entrada de uma placa ou circuito integrado e automaticamente medir os padrões de respostas na saída.

Para que serve ? Gerar sua própria sequência de testes para circuitos integrados ou placas dedicadas e aprender a lógica gerada por uma placa, por exemplo.


• Função Auto Learn

• Saída variável para drive (ATM module)

• Ajustes de limiar de tensões

• Indicação visual de falhas


• Realizar um teste customizado de um CI

• Testar lógicas de placas ou CI’s por partes.

• Realizar o teste digital de uma placa.

TESTADOR/GERADOR LÓGICO




O que é ? O identificador de circuitos integrados utiliza uma algorítimo de testes que permite que um componente digital seja identificado, determinando assim o número de referência do CI.

Para que serve ? Para determinar o part number equivalente de circutitos integrados raspados ou ilegíveis.


• A verificação pode ser in-circuit ou out-circuit


• Determinar a referência de um circuito integrado

• Testar circuitos digitais funcionalmente

• Encontrar opções de circuitos integrados equivalentes.

IDENTIFICADOR DE CI




O que é ? O verificador de Eeprom lê o conteúdo de uma EPROM e retorna o resultado em tela.

Para que serve ? Para verificar se EPROMs do mesmo modelo possuem os mesmos conteúdos.


• Testes realizados In-circuit e out-circuit

• Salve os conteúdos adquiridos no computador.


• Ler o conteúdo de uma EPROM

• Fazer o teste comparativo de conteúdo com outra EPROM

• Verificar se a EPROM não está em branco

VERIFICADOR DE EEPROM

Sistema Requerido: BFL



O que é ? Um teste customizado é utilizado para verificar os aspectos específicos de um componente utilizando os instrumentos padrões da linha System8. Instrumentos customizados podem ser criados e salvos a qualquer momento.

Para que serve ? Para construir novos instrumentos de testes que não estão disponíveis, acelerando assim o processo de análise de falhas. O teste abaixo verifica por exemplo a funcionalidade de um relé.

CARACTERÍSTICAS TÉCNICAS

• Salve e compartilhe os instrumentos customizados

• Integrar os instrumentos customizados em sequências de testes.


• Testar componentes rapidamente

• Criar instrumentos específicos para componentes específicos.

TESTES CUSTOMIZADOS




O que é ? O teste de comparações de sinais injeta uma forma de onda AC signal em um componente ou em um test point. O sinal de saída é monitorado para verificar alterações.

Para que serve? Para verificar a resposta de um componente quando colocado a um sinal AC.


• Medidas automáticas

• Parâmetros ajustáveis no gerador de funções

• Varredura de frequência automática

• Integrar instrumentos customizados as sequências de testes


• Observar a amplitude e variações do sinal

• Verificar se há mudanças de fases.

• Verificar alterações de frequência

• Verificar a resposta de um componente através de uma determinada entrada

TESTES DE COMPARAÇÕES DE SINAIS



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