Microscópio Composto

 

Um microscópio composto é um instrumento óptico composto fundalmentamente por um tubo delimitado nas suas extremidades por lentes esféricas convergentes, formando uma associação de lentes separadas.

A lente mais próxima do objeto observado é chamada objetiva, e é uma lente com distância focal na ordem de milímetros. A lente próxima ao observador é chamada ocular, e é uma lente com distância focal na ordem de centímetros.

O funcionamento de um miscroscópio composto é bastante simples. A objetiva fornece uma imagem real, invertida e maior que o objeto. Esta imagem funciona como objeto para o ocular, que funciona como uma lupa, fornecendo uma imagem final virtual, direta e maior.

Ou seja, o objeto é aumentado duplamente, fazendo com que objetos muito pequenos sejam melhores observados.

Este microscópio composto também é chamado Microscópio Óptico sendo capaz de aumentar até 2 000 vezes o objeto observado. Existem também Microscópio Eletrônicos capazes de proporcionar aumentos de até 100 000 vezes e Microscópios de Varredura que produzem aumentos superiores a 1 milhão de vezes.

Partes do Microscópio

Imagem: Partes do Microscópio (Fonte: Google Imagens)

Lente ocular é constituída por duas lentes que ampliam a imagem formada pelas objetivas e ajusta possíveis deficiências ópticas.

Tubo ou canhão serve de suporte para as lentes oculares.

Revólver ou Óptico utensílio giratório que tem como função portar as lentes objetivas.Objetivas são um sistema de lentes com diferentes aumentos e seu número varia de acordo com o microscópio.

Braço ou coluna está fixado à base e serve de estruturação para o restante do aparelho de microscopia.

Platina ou mesa serve como apoio para o material a ser observado, possui uma passagem de vidro por onde os raios de luz atravessam e também é dotada de parafusos dentados permitindo o deslocamento do material pela mesma.

Condensador e diafragma são responsáveis pela uniformidade da iluminação e redução ou ampliação da região a ser iluminada.

Lâmpada embutida é a fonte de luz do sistema.

Pé ou base trata-se do apoio e do ponto de fixação do microscópio.

Parafuso macrométrico é um objeto passível de rotação e permite a movimentação vertical da mesa.

Parafuso micrométrico por sua vez é responsável pelos movimentos verticais e sutis da mesa, permitindo aperfeiçoar a focagem.

Charriot é responsável pela movimentação lateral da lâmina em observação, sendo possível analisá-la de forma totalitáriaBlog, Equipamentos & Aplicações Publicado em: 17/07/2014 voltar

Utilizado para visualizar minúsculas estruturas, o microscópio é um equipamento essencial para qualquer laboratório. Isso porque o dispositivo permite a visualização de células, auxiliando no desenvolvimento da citologia e compreensão do funcionamento do corpo humano.

flickr.com / Matthew Hine Microscópio permite a visualização de células e outras pequenas estruturas.

O tipo de microscópio mais utilizado atualmente é o óptico (confira os outros tipos em “Saiba quais são os tipos de microscópios

existentes“), que funciona com um conjunto de lentes que ampliam a imagem a imagem transpassada por um feixe de luz. Conheça as partes principais desse mecanismo:

Sistema de oculares: contêm duas lentes oculares, que ampliam a imgem formada pelas objetivas, ajustando possíveis deficiências ópticas. Sua capacidade de aumento gira em torno de 10x a 15x.

Lentes objetivas: conjunto de lentes que se sobrepõem, ampliando a imagem do objeto observado. Geralmente, um microscópio tem três ou quatro lentes objetivas, proporcionando poderes de aumento que variam de 4x, 10x, 40x e 100x.

Revólver: utensílio giratório que acopla as lentes objetivas, modificando o aumento de acordo com o giro.

Platina: plataforma plana que tem como função suportar o material ou lâmina que está em observação. Possui uma passagem de vidro por onde os raios de luz atravessam.

Diafragma: controla tamanho e intensidade do cone de luz que é projetado sobre o objeto.

Condensador: controla o foco e posicionamento da luz sobre a amostra analisada.

Botão macrométrico: permite a movimentação da platina para cima e para baixo, favorecendo o melhor ajuste de foco.

Microscópio Eletrônico de Varredura e suas aplicaçõesLeandro Bento da Silva1, Juca Abramo Barrera San Martin2, Maria Amália Cavinato Nascimento2, Osvaldo Capello3, Célia Guadalupe Tardeli de Jesus Andrade2

, Pedro Henrique Arruda Aragão1 1Departamento de Física, Universidade Estadual de Londrina, Londrina, PR2 Departamento de Biologia, Universidade Estadual de Londrina, Londrina, PR 3 Laboratóriode Microscopia e Microanálise, Universidade Estadual de Londrina, Londrina, PR O primeiro microscópio eletrônico de varredura (MEV) surgiu em 1932, desenvolvido por Max Knoll e Ernest Renka Rusca, na Alemanha. O primeiro protótipo com capacidade de analisar amostras espessas, no entanto, foi construído por Zworykin, em 1942. A Microscopia Eletrônica de Varredura é utiliza da tanto para a pesquisa básica como aplicada. Essa técnica permite a observação e a caracterização de diferentes tipos de materiais, a partir da emissão e interação de feixes de elétrons sobre uma amostra, sendo possível caracterizá-los do ponto de vista de sua morfologia e sua organização ultra- estrutural. O MEV apresenta intervalo bastante abrangente na sua escala de observação, variando da ordem de grandeza de milímetr o (mm) ao nanômetro (nm), o que possibilita verificar, por exemplo, estruturas anatômicas de uma planta. Aliando a Espectrometria de Energia Dispersiva de Raios-X (EDX) com a Microscopia Eletrônica de Varredura conseguimos, além da determin ação qualitativa, a determinação quantitativa da composição de uma amostra . A utilização do MEV como técnica complementar mostra-se de grande importância e versatilidade, tanto para o estudo da micro-estrutura, possibilitando a obtenção de imagens com alta resolução, como também o estudo de propriedades do material e sua análise química. Referência: [1] – Bozzola, John J., Russell, Lonnie D., Electron Microscopy. 2. ed. Jones and Bartlett Publishers, Boston - USA (1992). [2] – Suguihiro, Natasha M.,

Utilização da Técnica de Microscopia Eletrônica de Varredura e Micro-Análise para Estudo de Soja sadia e Infectada por Phakopsora pacchyrizi.Universidade Estadual de Londrina ( CCE / Departamento de Física ). [3] – Klauss, Priscila,Estudo da Obtenção de Imagens no Microscópio Eletrônico de Varredura e Espectros na Micro-Análise por Energia Dispersiva.Universidade Federal de Santa Catarina ( UFSC / EMC – LabMat / LCMAI ).

Microscopia Eletrônica

Como os microscópio eletronicos (ME) tem aplicações em quase todas as especialidades científicas e em aplicações tecnológicas, o estudante de ciências bem informado deve ter um certo conhecimento do que é o equipamento,suas possibilidades e sua limições.

Os METs última geração são equipados com a mais recente e avançada tecnologia. A motorização e contrôle por computadores de todos os eixos de movimentação do espécimen (X,Y,Z,) provem a situação ideal para os procedimentos automatizados. Todo o esquema mecânico tem sido automatizado para a máxima estabilidade da imagem, o que é requerido para a alta resolução do MET(microscópio eletrônico de transmissão), do MEV (microscópio eletronico de varredura) e do STEM (microscópio eletrônico de varredura no MET). O sistema provê uma alta flexibilidade aos ângulos de inclinação (α,β) em combinação com segurança contra danos nas peças polares.

Os METs de última geração viajam em toda a série de análise e caracterizações rotineiras e nas pesquisas nos níveis micro a nanométricos. Sua alta performace, flexibilidade, amplo intervalo de sinais e facilidade de uso garantem uma grande produtividade nos contrôles e pesquisas dos chamados materiais tradicionais ou convencionais.

A imagem de alta resolução dos METs de última geração provê uma compreensão das estruturas cristalinas, micro-texturas , defeitos e interfaces em sólidos. As técnicas de difração de

elétrons, desde a área selecionada à microdifração em partículas de dimensões nanométricas, também podem ser realizadas. Esses microscópios podem também prover a análise química elementar de alta resolução e qualidade em áreas de dimensões nanométricas de partículas sólidas, utilizando raio-X de energia dispersiva, além do método por perda de energia (EELS).

Os materiais avançados tem um papel essencial na vida moderna : semi-condutores provem a base para microprocessadores e lasers; para multicomponentes constituidos por materiais metálicos ; cerâmicos e poliméricos; em novos materiais ópticos e magnéticos adiantados; materiais biosintéticos são utilizados para transplantes modernos; nanopartículas foram desenvolvidas para a produção de catalisadores, de adsorventes e de nanocompósitos, especialmente de nanocompositos argila-polimeros para a indústria automotiva. Para utilizá-los, uma compreensão fundamental das cacterísticas desses novos materiais é necessária. Essa compreensão tem início a partir da caracterização da morfologia desde a macro até a micro e nano escalas; morfologia; estrutura cristalina; composição quimicas; natureza das interfaces e superfícies; até defeitos estruturais das partículas nos pós e aglomerados.

O microscópio eletrônico de transmissão é, com certeza, o instrumento mais poderoso e fundamental para o estudo e caracterização de toda a série de materiais avançados. Tem começo de utilização no nível de resolução e aumentos do microscópio óptico até o nível nanométrico e o das estruturas cristalina e atômica, quando um enorme núnero e variedades de sinais. Esses sinais incluem electrons espalhados elasticamente, os quais carregam informação da estrutura; elétrons espalhados

inelasticamente, assim como raios-X, provendo informações químicas qualitativas e quantitativas sobre os elementos químicos cnstituintes dos materiais, além de eletrons secundários que fornecem informações sobre a superfície de partículas e de sódios.

Outra técnica de microscopia eletrônica é a microscopia eletrônica de varredura (MEV). Ela faz uso de quase todos os sinais gerados pela interação entre o feixe de elétrons e o espécimen, provendo uma grande riquesa de informações adicionais sobre os materiais. Ele faz parte das chamadas "scanning probe instruments" que visam prioritariamente caracterizar a superfície de sódios. No MEV, um feixe de elétrons de 5-50 KeV varre a superfície do espécimen. São produzidos raios-X, elétrons retroespalhados e elétrons secundários que são detectados e analisados por diferentes técnicas. Podem ser obtidos aumentos de até 100.000X com resoluções da ordem de 20nm. Profundidade de foco e aumento são inversamente proporcionais. Sistemas automáticos de medida da distribuição granolométrica do diâmetro de partículas podem ser acopladas aos MEVs. Os MEVs são equipamentos muito versáteis para pesquisa e controle de qualidade em materiais e produtos manufaturados, especialmente da indústria eletrônica.

Figura 1 - Secção transversal do primeiro microscópio eletrônico construido na America em 1938 no Departamento de Física da Universidade de Toronto, Canada. Funciona com os mesmos princípios do microscópio de luz, excepto que utiliza electron ao invés de luz para produzir uma imagem, e lentes magnéticas ao invés de lentes de vidro para focalizar o feixe.

Figura 2 - Alumina-Alfa usada para Cerâmica Avançada Sinterizado de Boemita ripiforme (obtida no microscópio eletrônico de transmissão CM-200 da Philips). A micrografia apresenta um monocristal de boemita no qual as franjas correspondentes a dois planos (100) e (001) podem ser observados.