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Laboratório de Circuitos ElétricosProf. Dr. Walter jaimes salcedo / Prof. Dr. Marcel stefan wagner
EPUSP – Escola Politécnica da Universidade de são Paulo
PSI-3212 – Curso de graduação em engenharia
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2EPUSP – Escola Politécnica da USP Curso: Graduação em Engenharia Disciplina: PSI-3212 Período: 2020-1 Turma: 08
Laboratório de Circuitos Elétricos
Aula 01
P R O F. D R . W A LT E R J A I M E S S A L C E D OP R O F. D R . M A R C E L S T E FA N W A G N E R
U S P – U N I V E R S I D A D E D E S Ã O PA U L O
E P – E S C O L A P O L I T É C N I C A
P S I - 3 2 1 2 – L A B O R AT Ó R I O D E C I R C U I T O S E L É T R I C O S
C U R S O D E G R A D U A Ç Ã O E M E N G E N H A R I A
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3EPUSP – Escola Politécnica da USP Curso: Graduação em Engenharia Disciplina: PSI-3212 Período: 2020-1 Turma: 08
LABORATÓRIO DE CIRCUITOS ELÉTRICOS
INTRODUÇÃO AO MULTÍMETRO
Agradecimentos:Prof. Dr. Leopoldo Yoshioka por informações sobre o experimento 1
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Laboratório de Circuitos Elétricos
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Laboratório de Circuitos Elétricos
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Laboratório de Circuitos Elétricos
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Laboratório – Experiência 1
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Experiência 1
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Experiência 1
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Laboratório – Experiência 1
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Laboratório – Experiência 1
Exemplo
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Laboratório – Experiência 1
Exemplo de determinação da Incerteza Instrumental (II) da
Leitura (L) de Resistência feita com o Multímetro TY-720 da
Yokogawa:
Exemplo:L = 10,181 MΩFE = 50 MΩRes = 0,001 MΩ
𝐼𝐼 = ± 1% . 𝐿 + 2 . 𝑅𝑒𝑠 → 𝐼𝐼 = ±1
100. 10,181 + 2 . 0,001 →
→ 𝐼𝐼 = ±1
100. 10,181 + 2 . 0,001 → 𝐼𝐼 = ± 0,01 . 10,181 + 0,002 →
→ 𝐼𝐼 = ± 0,10181 + 0,002 → 𝐼𝐼 = ± 0,10381 → 𝐼𝐼 ≅ ± 0,104 MΩ
∴ 𝑅 = 10,181 ± 0,104 MΩ
Valores obtidos da Tabela anterior, na coluna ACCURACY, para uma medida de resistência com
Leitura (L) em Fundo de Escala (FE) de 50 MΩ, portanto, com valores 1+2, desta forma tem-se a
multiplicação da variação de 1 % sobre L e o fator de multiplicação 2 para a Resolução.
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Laboratório – Experiência 1
Exemplo:L = 10,181 MΩT = 10 MΩ
𝐸𝑅 =𝐿 −𝑇
𝐿. 100 % → 𝐸𝑅 =
10,181 −10 𝑀Ω
10,181 𝑀Ω. 100 % → 𝐸𝑅 =
0,181𝑀Ω
10,181 𝑀Ω. 100 % →
→ 𝐸𝑅 = 0,01778 . 100 % → 𝐸𝑅 ≅ 1,78 %
Calcula-se o Erro Relativo (ER) utilizando-se o valor medido de resistência, ou seja, a Leitura (L) feita com o uso do Multímetro, e o valor Teórico (T) obtido da
leitura do Código de Cores do Resistor (R).
Exemplo de determinação do Erro Relativo (ER) de uma
leitura de Resistência feita com o Multímetro TY-720 da
Yokogawa:
Resultado coerente, pois o valor de ER ficou abaixo da Tolerância Nominal obtida da leitura do Código de Cores do Resistor, que no caso foi dourado, ou seja, 5 %.
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Laboratório – Experiência 1
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Laboratório – Experiência 1
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Laboratório – Experiência 1
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Laboratório – Experiência 1
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Laboratório – Experiência 1
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Laboratório – Experiência 1
Uma das possíveis posições para conectar o multímetro em série com o circuito, na
função de amperímetro.
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Laboratório – Experiência 1
Uma das possíveis posições para conectar o multímetro em série com o circuito, na
função de amperímetro.
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21EPUSP – Escola Politécnica da USP Curso: Graduação em Engenharia Disciplina: PSI-3212 Período: 2020-1 Turma: 08
Laboratório – Experiência 1
Uma das possíveis posições para conectar o multímetro em série com o circuito, na
função de amperímetro.
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Laboratório – Experiência 1
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Circuitos Internos com Galvanômetro
Resistência Shunt
Resistência Interna
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Circuitos Internos com Galvanômetro
Resistência InternaResistência
Multiplicadora
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Tipos de Resistores
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Resistores – Tamanho e Potência
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27EPUSP – Escola Politécnica da USP Curso: Graduação em Engenharia Disciplina: PSI-3212 Período: 2020-1 Turma: 08
Visão interna de Resistores
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28EPUSP – Escola Politécnica da USP Curso: Graduação em Engenharia Disciplina: PSI-3212 Período: 2020-1 Turma: 08
Visão interna de Resistores
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29EPUSP – Escola Politécnica da USP Curso: Graduação em Engenharia Disciplina: PSI-3212 Período: 2020-1 Turma: 08
Resistores SMD (Surface Mount Device)
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30EPUSP – Escola Politécnica da USP Curso: Graduação em Engenharia Disciplina: PSI-3212 Período: 2020-1 Turma: 08
Potenciômetro
Potenciômetro(Dispositivo Ôhmico: varia a resistência de forma linear. A resistência varia linearmente com o movimento do cursor)
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31EPUSP – Escola Politécnica da USP Curso: Graduação em Engenharia Disciplina: PSI-3212 Período: 2020-1 Turma: 08
Potenciômetro e Trimpot
Potenciômetro(Dispositivo Ôhmico: varia a resistência de forma linear. A resistência varia linearmente com o movimento do cursor)
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32EPUSP – Escola Politécnica da USP Curso: Graduação em Engenharia Disciplina: PSI-3212 Período: 2020-1 Turma: 08
LDR (Light Dependent Resistor)
Photoresistor(Dispositivo Não Ôhmico: não varia a
resistência de forma linear. A resistência varia conforme a intensidade de luz
aplicada à sua trilha de sulfato de cádmio)
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33EPUSP – Escola Politécnica da USP Curso: Graduação em Engenharia Disciplina: PSI-3212 Período: 2020-1 Turma: 08
LDR (Light Dependent Resistor)
Curva característica de um Photoresistor
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34EPUSP – Escola Politécnica da USP Curso: Graduação em Engenharia Disciplina: PSI-3212 Período: 2020-1 Turma: 08
VDR (Voltage Dependent Resistor)
Varistor(Dispositivo Não Ôhmico: não varia a resistência de forma
linear. A resistência varia conforme a tensão aplicada
aos seus terminais)
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35EPUSP – Escola Politécnica da USP Curso: Graduação em Engenharia Disciplina: PSI-3212 Período: 2020-1 Turma: 08
VDR (Voltage Dependent Resistor)
Varistor
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36EPUSP – Escola Politécnica da USP Curso: Graduação em Engenharia Disciplina: PSI-3212 Período: 2020-1 Turma: 08
NTC (Negative Temperature Coefficient)
Thermistor(Dispositivo Não Ôhmico: não
varia a resistência de forma linear. A resistência varia conforme a
variação da temperatura)
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37EPUSP – Escola Politécnica da USP Curso: Graduação em Engenharia Disciplina: PSI-3212 Período: 2020-1 Turma: 08
PTC (Positive Temperature Coefficient)
Thermistor(Dispositivo Não Ôhmico: não
varia a resistência de forma linear. A resistência varia conforme a
variação da temperatura)
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Referências Bibliográficas[1] Vários autores, Apostilas e notas de aula, EPUSP. Several Authors, Class notes, EPUSP.
[2] L.Q. ORSINI e D. CONSONNI, Curso de Circuitos Elétricos, Vol. I, 2a. Ed., 2002, Ed. Edgard Blücher Ltda.
[3] L.Q. ORSINI e D. CONSONNI, Curso de Circuitos Elétricos, Vol. II, 2a. Ed., 2004, Ed. Edgard Blücher Ltda.
[4] J.W. NILSSON, S.A. RIEDEL, Electrical Circuits, 9th, Prentice Hall, 2010.
[5] R.C. DORF, J.A. SVOBODA, Introduction to Electric Circuits, John Wiley & Sons, 8th Edition, 2010.
[6] P.A. MARIOTTO, Análise de Circuitos Elétricos, Prentice-Hall, 2002.
[7] C.K. ALEXANDER, M.N.O. SADIKU, Fundamentos de Circuitos Elétricos, 5ª edição, McGraw-Hill /Bookman, 2013.
[8] J.D. IRWIN, CHWAN-HWA WU, Basic Engineering Circuit Analysis, 8th Edition, Wiley, 2005.
[9] L.O. CHUA, C.A. DESOER, E.S. KUH, Linear and Nonlinear Circuits, McGraw-Hill, New York, 1987.
[10] L.Q. ORSINI, Exercícios de Circuitos Elétricos, Ed. Edgard Blücher, S.Paulo, 1976.
[10] University of Colorado Boulder. Disponível em: <https://phet.colorado.edu/pt_BR/>. Acesso em:setembro de 2019.
[11] Falstad. Disponível em: <http://www.falstad.com/mathphysics.html>. Acesso em: setembro de 2019.
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39EPUSP – Escola Politécnica da USP Curso: Graduação em Engenharia Disciplina: PSI-3212 Período: 2020-1 Turma: 08
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