FMCI Cap 6 [Modo de Compatibilidade] -...

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05/08/2014 1 Slides do livroFMCI 6 Resultados de Medições Resultados de Medições Diretas Diretas Fundamentos da Metrologia Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial Científica e Industrial Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 2/124) Motivação Motivação Como usar as informações disponíveis sobre o processo de medição e escrever corretamente o resultado da medição? resultado da medição definição do mensurando procedimento de medição condições ambientais sistema de medição operador RM = (RB ± IM) unidade Slides do livroFMCI 6.1 6.1 Medições Diretas e Indiretas Medições Diretas e Indiretas

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Slides do livroFMCI

66Resultados de Medições Resultados de Medições

DiretasDiretasFundamentos da Metrologia Fundamentos da Metrologia

Científica e IndustrialCientífica e Industrial

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 2/124)

MotivaçãoMotivação

Como usar as informações disponíveis sobre o processo de medição e escrever corretamente o resultado da medição?

resultado da medição

definição do mensurando

procedimento de medição

condições ambientais

sistema de medição

operador

RM = (RB ± IM) unidade

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6.16.1Medições Diretas e IndiretasMedições Diretas e Indiretas

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 4/124)

Medições diretasMedições diretas

O sistema de medição já indica O sistema de medição já indica naturalmente o valor do mensurando.naturalmente o valor do mensurando.

Exemplos:Exemplos: Medição do diâmetro de um eixo com um Medição do diâmetro de um eixo com um

paquímetro.paquímetro. Medição da tensão elétrica de uma pilha com Medição da tensão elétrica de uma pilha com

um voltímetro.um voltímetro.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 5/124)

Medições indiretasMedições indiretas

A grandeza é determinada a partir de A grandeza é determinada a partir de operações entre duas ou mais operações entre duas ou mais grandezas medidas separadamente.grandezas medidas separadamente.

Exemplos:Exemplos: A área de um terreno retangular A área de um terreno retangular

multiplicando largura pelo comprimento.multiplicando largura pelo comprimento. Medição da velocidade média de um Medição da velocidade média de um

automóvel dividindo a distância percorrida automóvel dividindo a distância percorrida pelo tempo correspondente.pelo tempo correspondente.

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6.26.2Caracterização do Processo de Caracterização do Processo de

MediçãoMedição

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 7/124)

Processo de mediçãoProcesso de medição

resultado da medição

definição do mensurando

procedimento de medição

condições ambientais

sistema de medição

operador

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6.36.3A Variabilidade do MensurandoA Variabilidade do Mensurando

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 9/124)

O Mensurando é consideradoO Mensurando é considerado

Invariável:Invariável: se seu valor permanece constante durante o se seu valor permanece constante durante o

período em que a medição é efetuada.período em que a medição é efetuada. Exemplo: a massa de uma jóia.Exemplo: a massa de uma jóia.

Variável:Variável: quando o seu valor não é único ou bem quando o seu valor não é único ou bem

definido. Seu valor pode variar em função da definido. Seu valor pode variar em função da posição, do tempo ou de outros fatores.posição, do tempo ou de outros fatores.

Exemplo: a temperatura ambiente.Exemplo: a temperatura ambiente.

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 10/124)

Em termos práticosEm termos práticos

Mensurando Invariável:Mensurando Invariável: As variações do mensurando são As variações do mensurando são inferioresinferiores a a

à resolução do SM.à resolução do SM.

Mensurando Variável:Mensurando Variável: As variações do mensurando são iguais ou As variações do mensurando são iguais ou

superioressuperiores à resolução do SM.à resolução do SM.

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6.46.4O resultado da medição de um O resultado da medição de um

mensurando invariável quando a mensurando invariável quando a incerteza e correção combinadas incerteza e correção combinadas

são conhecidassão conhecidas

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 12/124)

Incertezas combinadasIncertezas combinadas

A repetitividade combinada corresponde à A repetitividade combinada corresponde à contribuição resultante de todas as fontes contribuição resultante de todas as fontes de erros aleatórios que agem de erros aleatórios que agem simultaneamente no processo de medição.simultaneamente no processo de medição.

A correção combinada compensa os erros A correção combinada compensa os erros sistemáticos de todas as fontes de erros sistemáticos de todas as fontes de erros sistemáticos que agem simultaneamente sistemáticos que agem simultaneamente no processo de medição.no processo de medição.

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 13/124)

Três casosTrês casos

Número de medições repetidas:

Compensa erros sistemáticos:

Caso1

n=1

sim

Caso2

n>1

sim

Caso3

n ≥ 1

não

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Caso 1Caso 1Mensurando invariávelMensurando invariável

n = 1n = 1Corrigindo erros sistemáticosCorrigindo erros sistemáticos

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 15/124)

Caso 1Caso 1

indicação

mensurando

sistema de medição

RB

+ C

± Re

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 16/124)

Caso 1Caso 1

indicação

+ C

+ Re- Re

RM = I + C ± Re

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 17/124)

1014g0 g1014 g

11

(1000,00 ± 0,01) g

Re = 3,72 g

Caso 1 Caso 1 -- ExemploExemplo

C = -15,0 g

RM = I + C ± Re

RM = 1014 + (-15,0) ± 3,72

RM = 999,0 ± 3,72

RM = (999,0 ± 3,7) g

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Caso 2Caso 2Mensurando invariávelMensurando invariável

n > 1n > 1Corrigindo erros sistemáticosCorrigindo erros sistemáticos

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 19/124)

Caso 2Caso 2

Indicação média

mensurando

sistema de medição

RB

+ C

± Re/√n

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 20/124)

indicação média

+ C

+ Re/n- Re /n

Caso 2Caso 2

RM = I + C ± Re /n

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 21/124)

Re = 3,72 g

Caso 2 Caso 2 -- ExemploExemplo

C = -15,0 g

RM = 1015 -15,0 ± 3,72 /12

RM = 1000,0 ± 1,07

RM = (1000,0 ± 1,1) g1014

g0 g1014 g

11

(1000,00 ± 0,01) g

11

(1000,00 ± 0,01) g

11

(1000,00 ± 0,01) g

1014 g

1012 g1015 g1018 g1014 g1015 g1016 g1013 g1016 g1015 g

1015 g

1015 g

1017 g

1017 g

I = 1015 g

RM = I + C ± Re/n

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Caso 3Caso 3Mensurando invariávelMensurando invariável

n ≥ 1n ≥ 1Não corrigindo erros sistemáticosNão corrigindo erros sistemáticos

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 23/124)

Caso 3 Caso 3 -- Erro máximo conhecido Erro máximo conhecido --mensurando invariávelmensurando invariável

indicação ou média

mensurando

sistema de medição

RB

- Emáx + Emáx

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 24/124)

Indicação ou média

+ Emáx- Emáx

RM = I ± Emáx

Caso 3 Caso 3 -- Erro máximo conhecido Erro máximo conhecido --mensurando invariávelmensurando invariável

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 25/124)

1014g0 g1014 g

11

(1000,00 ± 0,01) g

Caso 3 Caso 3 -- ExemploExemplo

Emáx = 18 g

RM = I ± Emáx

RM = 1014 ± 18

RM = (1014 ± 18) g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 26/124)

Representação gráfica dos três Representação gráfica dos três resultadosresultados

1000 1020 1040960 980mensurando [g]

RM = (999,0 ± 3,7) g

RM = (1000,0 ± 1,1) g

RM = (1014 ± 18) g

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6.56.5A Grafia Correta do Resultado da A Grafia Correta do Resultado da

MediçãoMedição

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 28/124)

Algarismos Significativos (AS)Algarismos Significativos (AS)

Exemplos:Exemplos: 1212 1,21,2 0,0120,012 0,0000120,000012 0,012000,01200

Número de AS: Número de AS: contaconta--se da se da esquerda para a direitaesquerda para a direita a partir a partir

do primeiro algarismo do primeiro algarismo não nulonão nulo

tem dois AStem dois AStem dois AStem dois AStem dois AStem dois AStem dois AStem dois AStem quatro AStem quatro AS

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 29/124)

Regras de GrafiaRegras de Grafia

Regra 1:Regra 1: A incerteza da medição é escrita com A incerteza da medição é escrita com até até

doisdois algarismos significativos.algarismos significativos.

Regra 2: Regra 2: O resultado base é escrito com o O resultado base é escrito com o mesmo mesmo

número de casas decimaisnúmero de casas decimais com que é com que é escrita a incerteza da medição.escrita a incerteza da medição.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 30/124)

A grafia do resultado da A grafia do resultado da mediçãomedição

Exemplo 1:Exemplo 1:RM = (319,213 RM = (319,213 ±± 11,4) mm11,4) mm

RM = (319,213 ± 11) mm

REGRA 1

RM = (319 ± 11) mm

REGRA 2

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 31/124)

A grafia do resultado da A grafia do resultado da mediçãomedição

Exemplo 2:Exemplo 2:RM = (18,4217423 RM = (18,4217423 ±± 0,04280437) mm0,04280437) mm

RM = (18,4217423 ± 0,043) mm

REGRA 1

RM = (18,422 ± 0,043) mm

REGRA 2

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6.66.6O resultado da medição de um O resultado da medição de um mensurando variável quando a mensurando variável quando a

incerteza e correção combinadas são incerteza e correção combinadas são conhecidasconhecidas

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 33/124)

Qual a altura do muro?Qual a altura do muro?

h1

h2h3 h4h5

c/2 c/2

h6h7

h8

h9h10

h11h12 h13

h14

h = média entre h7 a h14?

Qual seria uma resposta honesta?

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 34/124)

Respostas honestas:Respostas honestas:Varia.

h1

h2

Varia entre um mínimo de h1 e um máximo de h2.

A faixa de variação de um mensurando variável deve fazer parte do resultado da medição.

Faix

a de

var

iaçã

o

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 35/124)

Medição de mensurando Medição de mensurando variávelvariável

Deve sempre ser medido Deve sempre ser medido muitasmuitas vezes, vezes, em locais e/ou momentos distintos, para em locais e/ou momentos distintos, para que aumentem as chances de que toda a que aumentem as chances de que toda a sua sua faixa de variaçãofaixa de variação seja seja varridavarrida..

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Caso 4Caso 4Mensurando variávelMensurando variável

n > 1n > 1Corrigindo erros sistemáticosCorrigindo erros sistemáticos

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 37/124)

Caso 4Caso 4

mensurando

sistema de medição

RB

faixa de variação das indicações

± t . u

+ C

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 38/124)

Caso 4Caso 4

indicação média

+ C

+ t . u- t . uu = incerteza padrão determinada a partir das várias indicações

RM = I + C ± t . u

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 39/124)

Caso 4 Caso 4 -- ExemploExemploTemperatura no refrigeradorTemperatura no refrigerador

A

B

C

D

C = - 0,80°C

As temperaturas foram medidas durante duas horas, uma vez por minuto, por cada sensor.

Dos 480 pontos medidos, foi calculada a média e incerteza padrão:

u = 1,90°C

Da curva de calibração dos sensores determina-se a correção a ser aplicada:

I = 5,82°C

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 40/124)

Caso 4 Caso 4 -- ExemploExemploTemperatura no refrigeradorTemperatura no refrigerador

RM = I + C ± t . u

RM = 5,82 + (-0,80) ± 2,00 . 1,90

RM = 5,02 ± 3,80

RM = (5,0 ± 3,8)°C

4 6 80 2

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Caso 5Caso 5Mensurando variávelMensurando variável

n > 1n > 1Não corrigindo erros sistemáticosNão corrigindo erros sistemáticos

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 42/124)

Caso 5Caso 5

mensurando

sistema de medição

RB

faixa de variação das indicações

± t . u

- Emáx + Emáx

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 43/124)

indicação média

+ Emáx- Emáx

Caso 5 Caso 5 -- Erro máximo conhecido e Erro máximo conhecido e mensurando variávelmensurando variável

+ t . u- t . u

RM = I ± (Emáx + t . u)

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 44/124)

Caso 5 Caso 5 -- ExemploExemploVelocidade do ventoVelocidade do vento

Emáx = 0,20 m/s

A velocidade do vento foi medida durante 10 minutos uma vez a cada 10 segundos.

Dos 60 pontos medidos, foi calculada a média e a incerteza padrão:

u = 1,9 m/sI = 15,8 m/s

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 45/124)

RM = I ± (Emáx + t . u)

RM = 15,8 ± (0,2 + 2,0*1,9)

RM = (15,8 ± 4,0) m/s

15 17 1911 13

Caso 5 Caso 5 -- ExemploExemploVelocidade do ventoVelocidade do vento

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6.76.7O resultado da medição na O resultado da medição na

presença de várias fontes de presença de várias fontes de incertezasincertezas

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 47/124)

Determinação da incerteza de medição Determinação da incerteza de medição em oito passosem oito passos

P1 – Analise o processo de medição

P2 – Identifique as fontes de incertezas

P3 – Estime a correção de cada fonte de incerteza

P4 – Calcule a correção combinada

P5 – Estime a incerteza padrão de cada fonte de incertezas

P6 – Calcule a incerteza padrão combinada e o número de graus de liberdade efetivos

P7 – Calcule a incerteza expandida

P8 – Exprima o resultado da medição

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 48/124)

1.1. Compreenda todos os fenômenos Compreenda todos os fenômenos envolvidos no processo de medição.envolvidos no processo de medição.

2.2. Busque informações complementares Busque informações complementares na bibliografia técnica, catálogos, na bibliografia técnica, catálogos, manuais, etc.manuais, etc.

3.3. Se necessário, faça experimentos Se necessário, faça experimentos auxiliares.auxiliares.

P1 – Analise o processo de medição

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 49/124)

incertezas no resultado da medição

definição do mensurando

procedimento de medição

condições ambientais

sistema de medição

operador

P2 – Identifique as fontes de incerteza

Atribua um Atribua um símbolosímbolo para cada fonte de para cada fonte de incertezas consideradaincertezas considerada

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 50/124)

BALANÇO DE INCERTEZASBALANÇO DE INCERTEZASprocesso de mediçãoprocesso de medição unidade:unidade:

fontes de incertezasfontes de incertezas efeitos sistemáticosefeitos sistemáticos efeitos aleatóriosefeitos aleatórios

símbolosímbolo descriçãodescrição correçãocorreção aa distribuiçãodistribuição uu νν

CCcc correção combinadacorreção combinada

uucc incerteza combinadaincerteza combinada normalnormal

UU incerteza expandidaincerteza expandida normalnormal

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 51/124)

BALANÇO DE INCERTEZASBALANÇO DE INCERTEZASprocesso de mediçãoprocesso de medição unidade:unidade:

fontes de incertezasfontes de incertezas efeitos sistemáticosefeitos sistemáticos efeitos aleatóriosefeitos aleatórios

símbolosímbolo descriçãodescrição correçãocorreção aa distribuiçãodistribuição uu νν

S1S1 descrição 1descrição 1

S2S2 descrição 2descrição 2

S3S3 descrição 3descrição 3

S4S4 descrição 4descrição 4

S5S5 descrição 5descrição 5

CCcc correção combinadacorreção combinada

uucc incerteza combinadaincerteza combinada normalnormal

UU incerteza expandidaincerteza expandida normalnormal

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 52/124)

1.1. Analise o fenômeno associadoAnalise o fenômeno associado2.2. Reúna informações préReúna informações pré--existentesexistentes3.3. Se necessários realize experimentosSe necessários realize experimentos4.4. Pode ser conveniente estimar a correção para Pode ser conveniente estimar a correção para

um bloco de fontes de incertezas cuja um bloco de fontes de incertezas cuja separação seria difícil ou inconveniente.separação seria difícil ou inconveniente.

5.5. Estime o valor da correção a ser aplicada para Estime o valor da correção a ser aplicada para as condições de medição e expresseas condições de medição e expresse--o na o na unidade do mensurando.unidade do mensurando.

P3 – Estime a correção de cada fonte de incertezas

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 53/124)

BALANÇO DE INCERTEZASBALANÇO DE INCERTEZASprocesso de mediçãoprocesso de medição unidade:unidade:

fontes de incertezasfontes de incertezas efeitos sistemáticosefeitos sistemáticos efeitos aleatóriosefeitos aleatórios

símbolosímbolo descriçãodescrição correçãocorreção aa distribuiçãodistribuição uu νν

S1S1 descrição 1descrição 1 C1C1

S2S2 descrição 2descrição 2 C2C2

S3S3 descrição 3descrição 3 C3C3

S4S4 descrição 4descrição 4 C4C4

S5S5 descrição 5descrição 5 C5C5

CCcc correção combinadacorreção combinada

uucc incerteza combinadaincerteza combinada normalnormal

UU incerteza expandidaincerteza expandida normalnormal

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 54/124)

A correção combinada é calculada pela A correção combinada é calculada pela soma algébrica das correções soma algébrica das correções individualmente estimadas para cada fonte individualmente estimadas para cada fonte de incertezas:de incertezas:

nc CCCCC ...321

P4 – Calcule a correção combinada

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 55/124)

BALANÇO DE INCERTEZASBALANÇO DE INCERTEZASprocesso de mediçãoprocesso de medição unidade:unidade:

fontes de incertezasfontes de incertezas efeitos sistemáticosefeitos sistemáticos efeitos aleatóriosefeitos aleatórios

símbolosímbolo descriçãodescrição correçãocorreção aa distribuiçãodistribuição uu νν

S1S1 descrição 1descrição 1 C1C1

S2S2 descrição 2descrição 2 C2C2

S3S3 descrição 3descrição 3 C3C3

S4S4 descrição 4descrição 4 C4C4

S5S5 descrição 5descrição 5 C5C5

CCcc correção combinadacorreção combinada CcombCcomb

uucc incerteza combinadaincerteza combinada normalnormal

UU incerteza expandidaincerteza expandida normalnormal

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 56/124)

1.1. Determinação através de procedimentos Determinação através de procedimentos estatísticos (estatísticos (tipo Atipo A):):

1

)()( 1

2

n

IIIu

n

kk

A incerteza padrão pode ser estimada a partir de um conjunto de “n” medições repetidas por:

1 n

P5 – Estime a incerteza padrão de cada fonte de incertezas

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 57/124)

1.1. Determinação através de procedimentos Determinação através de procedimentos estatísticos (estatísticos (tipo Atipo A):):

mIuIu )()(

Quando o mensurando é invariável e é determinado pela média de “m” medições repetidas, a incerteza padrão da média é estimada por:

1 n

P5 – Estime a incerteza padrão de cada fonte de incertezas

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20

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 58/124)

1.1. Determinação através de procedimentos Determinação através de procedimentos estatísticos (estatísticos (tipo Atipo A):):

)()( IuIu

Quando o mensurando é variável e é determinado a partir da média de “m” medições repetidas, sua incerteza padrão é estimada por:

1 n

P5 – Estime a incerteza padrão de cada fonte de incertezas

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 59/124)

2.2. Determinação através de procedimentos Determinação através de procedimentos não estatísticos (não estatísticos (tipo Btipo B):): Dedução através da análise do fenômenoDedução através da análise do fenômeno Informações históricas e preInformações históricas e pre--existentesexistentes Experiência de especialistasExperiência de especialistas Informações extraídas de catálogos técnicos Informações extraídas de catálogos técnicos

e relatórios de calibraçõese relatórios de calibrações

P5 – Estime a incerteza padrão de cada fonte de incertezas

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 60/124)

2.2. Determinação através de procedimentos Determinação através de procedimentos não estatísticos (não estatísticos (tipo Btipo B):): Normalmente assumeNormalmente assume--se que a distribuição se que a distribuição

de probabilidades é perfeitamente de probabilidades é perfeitamente conhecida.conhecida.

O número de graus de liberdade associado a O número de graus de liberdade associado a uma distribuição de probabilidades uma distribuição de probabilidades perfeitamente conhecida é sempre perfeitamente conhecida é sempre infinitoinfinito

P5 – Estime a incerteza padrão de cada fonte de incertezas

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21

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 61/124)

f(x)

+ a- a

3au

P5 – Estime a incerteza padrão –distribuição retangular

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 62/124)

Incerteza devido à resoluçãoIncerteza devido à resolução

mensurando

indicação

R

erroR/2

- R/2

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 63/124)

+ a- a

6au

f(x)

P5 – Estime a incerteza padrão –distribuição triangular

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22

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 64/124)

+ a- a

2au

95,45%

f(x)

P5 – Estime a incerteza padrão –distribuição gaussiana

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 65/124)

+ a- a

2au

f(x)

P5 – Estime a incerteza padrão –distribuição em “U”

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 66/124)

BALANÇO DE INCERTEZASBALANÇO DE INCERTEZASprocesso de mediçãoprocesso de medição unidade:unidade:

fontes de incertezasfontes de incertezas efeitos sistemáticosefeitos sistemáticos efeitos aleatóriosefeitos aleatórios

símbolosímbolo descriçãodescrição correçãocorreção aa distribuiçãodistribuição uu νν

S1S1 descrição 1descrição 1 C1C1 a1a1 tipo 1tipo 1 u1u1 νν11

S2S2 descrição 2descrição 2 C2C2 a2a2 tipo 2tipo 2 u2u2 νν22

S3S3 descrição 3descrição 3 C3C3 a3a3 tipo 3tipo 3 u3u3 νν33

S4S4 descrição 4descrição 4 C4C4 a4a4 tipo 4tipo 4 u4u4 νν44

S5S5 descrição 5descrição 5 C5C5 a5a5 tipo 5tipo 5 u5u5 νν55

CCcc correção combinadacorreção combinada CcombCcomb

uucc incerteza combinadaincerteza combinada normalnormal

UU incerteza expandidaincerteza expandida normalnormal

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 67/124)

O quadrado da incerteza padrão O quadrado da incerteza padrão combinada é normalmente calculado pela combinada é normalmente calculado pela soma dos quadrados das incertezas soma dos quadrados das incertezas padrão de cada fonte de incertezas:padrão de cada fonte de incertezas:

223

22

21

2 ... nc uuuuu

P6 – Incerteza padrão combinada e o número de graus de liberdade efetivos

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 68/124)

O número de graus de liberdade efetivo é O número de graus de liberdade efetivo é calculado pela equação de Welchcalculado pela equação de Welch--Satterthwaite:Satterthwaite:

n

n

ef

c uuuu

4

2

42

1

41

4

...

P6 – Incerteza padrão combinada e o número de graus de liberdade efetivos

Se um número não inteiro for obtido, adotaSe um número não inteiro for obtido, adota--se a parte inteira. Por exemplo: se se a parte inteira. Por exemplo: se adotaadota--se 17. se 17.

6,17ef

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 69/124)

BALANÇO DE INCERTEZASBALANÇO DE INCERTEZASprocesso de mediçãoprocesso de medição unidade:unidade:

fontes de incertezasfontes de incertezas efeitos sistemáticosefeitos sistemáticos efeitos aleatóriosefeitos aleatórios

símbolosímbolo descriçãodescrição correçãocorreção aa distribuiçãodistribuição uu νν

S1S1 descrição 1descrição 1 C1C1 a1a1 tipo 1tipo 1 u1u1 νν11

S2S2 descrição 2descrição 2 C2C2 a2a2 tipo 2tipo 2 u2u2 νν22

S3S3 descrição 3descrição 3 C3C3 a3a3 tipo 3tipo 3 u3u3 νν33

S4S4 descrição 4descrição 4 C4C4 a4a4 tipo 4tipo 4 u4u4 νν44

S5S5 descrição 5descrição 5 C5C5 a5a5 tipo 5tipo 5 u5u5 νν55

CCcc correção combinadacorreção combinada CcombCcomb

uucc incerteza combinadaincerteza combinada normalnormal ucombucomb ννefef

UU incerteza expandidaincerteza expandida normalnormal

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 70/124)

Multiplique a incerteza combinada pelo Multiplique a incerteza combinada pelo coeficiente de Student correspondente ao coeficiente de Student correspondente ao número de graus de liberdade efetivo:número de graus de liberdade efetivo:

P7 – Calcule a incerteza expandida

cv utUef

.)%,45,95(

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 71/124)

BALANÇO DE INCERTEZASBALANÇO DE INCERTEZASprocesso de mediçãoprocesso de medição unidade:unidade:

fontes de incertezasfontes de incertezas efeitos sistemáticosefeitos sistemáticos efeitos aleatóriosefeitos aleatórios

símbolosímbolo descriçãodescrição correçãocorreção aa distribuiçãodistribuição uu νν

S1S1 descrição 1descrição 1 C1C1 a1a1 tipo 1tipo 1 u1u1 νν11

S2S2 descrição 2descrição 2 C2C2 a2a2 tipo 2tipo 2 u2u2 νν22

S3S3 descrição 3descrição 3 C3C3 a3a3 tipo 3tipo 3 u3u3 νν33

S4S4 descrição 4descrição 4 C4C4 a4a4 tipo 4tipo 4 u4u4 νν44

S5S5 descrição 5descrição 5 C5C5 a5a5 tipo 5tipo 5 u5u5 νν55

CCcc correção combinadacorreção combinada CcombCcomb

uucc incerteza combinadaincerteza combinada normalnormal ucombucomb ννefef

UU incerteza expandidaincerteza expandida normalnormal UexpUexp

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 72/124)

Calcule o compatibilize os valores.Calcule o compatibilize os valores. Use sempre o SIUse sempre o SI

P8 – Exprima o resultado da medição

unidadeUCIRM c )(

Não esqueça:Não esqueça:Conhecimento + Honestidade + Bom SensoConhecimento + Honestidade + Bom Senso

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25

Slides do livroFMCI

6.86.8Problemas ResolvidosProblemas Resolvidos

Slides do livroFMCI

6.8.a6.8.aIncerteza de calibração de uma Incerteza de calibração de uma

balança digitalbalança digital

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 75/124)

Resolução da balança: 0,02 g

20,16 g

massa-padrão

20

Temperatura ambiente: (20,0 ± 1,0) °C

Dados da massa padrão:Valor nominal: 20,000 gCorreção: -0,005 gIncerteza da correção: 0,002 g

NN°° IndicaçãoIndicação11 20,1620,1622 20,1020,1033 20,1420,1444 20,1220,1255 20,1820,18MédiaMédia 20,14020,140ss 0,03160,0316

5 medições

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 76/124)

P1 – Análise do processo de medição

1.1. MensurandoMensurando: massa padrão. Bem definida e : massa padrão. Bem definida e com certificado de calibração.com certificado de calibração.

2.2. ProcedimentoProcedimento: ligar, limpar, aguardar 30 : ligar, limpar, aguardar 30 min, regular zero, medir 5 vezes e média.min, regular zero, medir 5 vezes e média.

3.3. AmbienteAmbiente: de laboratório. Temperatura de : de laboratório. Temperatura de (20,0 (20,0 ±± 1,0) 1,0) °°C e C e tensão elétrica estável.tensão elétrica estável.

4.4. OperadorOperador: exerce pouca influência. : exerce pouca influência. Indicação digital e sem força de medição.Indicação digital e sem força de medição.

5.5. O sistema de mediçãoO sistema de medição: é o próprio objeto : é o próprio objeto da calibração.da calibração.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 77/124)

P2 – Fontes de incertezas

1.1. Repetitividade natural da balança. (Re)Repetitividade natural da balança. (Re)2.2. Limitações da massa padrão. (MP)Limitações da massa padrão. (MP)3.3. Resolução limitada da balança. (R)Resolução limitada da balança. (R)

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 78/124)

P3 + P4 – Estimativa da correção:

1.1. A repetitividade natural da balança e a A repetitividade natural da balança e a resolução limitada trazem apenas resolução limitada trazem apenas componentes aleatórias.componentes aleatórias.

2.2. A massa padrão possui uma correção A massa padrão possui uma correção CCMPMP = = -- 0,005 g, que foi transcrita para a 0,005 g, que foi transcrita para a tabela.tabela.

3.3. A correção da massa padrão coincide com a A correção da massa padrão coincide com a correção combinada: Ccorreção combinada: Cc c = C= CMPMP

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 79/124)

BALANÇO DE INCERTEZASBALANÇO DE INCERTEZASprocesso de mediçãoprocesso de medição Calibração de uma balança digital Calibração de uma balança digital –– ponto 20 gponto 20 g unidade:unidade: gg

fontes de incertezasfontes de incertezas efeitos sistemáticosefeitos sistemáticos efeitos aleatóriosefeitos aleatórios

símbolosímbolo descriçãodescrição correçãocorreção aa distribuiçãodistribuição uu νν

ReRe repetitividade naturalrepetitividade natural --

MPMP massa padrãomassa padrão --0,0050,005

RR resolução limitadaresolução limitada --

CCcc correção combinadacorreção combinada --0,0050,005

uucc incerteza combinadaincerteza combinada normalnormal

UU incerteza expandidaincerteza expandida normalnormal

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 80/124)

P5 – Incertezas padrão

1.1. Repetitividade: Repetitividade: Estimada experimentalmente através das 5 Estimada experimentalmente através das 5 medições repetidas. medições repetidas. A média das 5 medições será adotadaA média das 5 medições será adotada

0141,05

0316,05Re

uu 4Re

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 81/124)

P5 – Incertezas padrão

2.2. Massa padrão: Massa padrão: Incerteza expandida disponível no certificado Incerteza expandida disponível no certificado de calibração.de calibração.A incerteza padrão é calculada dividindo a A incerteza padrão é calculada dividindo a incerteza expandida pelo coeficiente de incerteza expandida pelo coeficiente de Student, cujo menor valor possível é 2, o que Student, cujo menor valor possível é 2, o que corresponde a infinitos graus de liberdade:corresponde a infinitos graus de liberdade:

001,02002,0

2 MP

MPUu MP

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 82/124)

P5 – Incertezas padrão

3.3. Resolução limitada: Resolução limitada: O valor da resolução é 0,02 g.O valor da resolução é 0,02 g.Sua incerteza tem distribuição retangular com Sua incerteza tem distribuição retangular com aa = R/2 = 0,01 g. Logo:= R/2 = 0,01 g. Logo:

00577,0301,0

32/

3

RauR R

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 83/124)

BALANÇO DE INCERTEZASBALANÇO DE INCERTEZASprocesso de mediçãoprocesso de medição Calibração de uma balança digital Calibração de uma balança digital –– ponto 20 gponto 20 g unidade:unidade: gg

fontes de incertezasfontes de incertezas efeitos sistemáticosefeitos sistemáticos efeitos aleatóriosefeitos aleatórios

símbolosímbolo descriçãodescrição correçãocorreção aa distribuiçãodistribuição uu νν

ReRe repetitividade naturalrepetitividade natural -- -- normalnormal 0,01410,0141 44

MPMP massa padrãomassa padrão --0,0050,005 0,0020,002 normalnormal 0,00100,0010 ∞∞

RR resolução limitadaresolução limitada -- 0,010,01 retangretang 0,005770,00577 ∞∞

CCcc correção combinadacorreção combinada --0,0050,005

uucc incerteza combinadaincerteza combinada normalnormal

UU incerteza expandidaincerteza expandida normalnormal

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 84/124)

P6 – Incerteza combinada

222Re RMPc uuuu

222 )00577,0()0010,0()0141,0( cu

guc 0153,010).3,3318,198( 6

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 85/124)

P6 – Graus de liberdade efetivos

R

R

MP

MP

ef

c uuuu

44

Re

4Re

4

4444 )00577,0()0010,0(4

)0141,0()0153,0(ef

49,5ef 5efusar

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 86/124)

P7 – Incerteza expandida

gutU c 0405,00153,0.649,2.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 87/124)

BALANÇO DE INCERTEZASBALANÇO DE INCERTEZASprocesso de mediçãoprocesso de medição Calibração de uma balança digital Calibração de uma balança digital –– ponto 20 gponto 20 g unidade:unidade: gg

fontes de incertezasfontes de incertezas efeitos sistemáticosefeitos sistemáticos efeitos aleatóriosefeitos aleatórios

símbolosímbolo descriçãodescrição correçãocorreção aa distribuiçãodistribuição uu νν

ReRe repetitividade naturalrepetitividade natural -- -- normalnormal 0,01410,0141 44

MPMP massa padrãomassa padrão --0,0050,005 0,0020,002 normalnormal 0,00100,0010 ∞∞

RR resolução limitadaresolução limitada -- 0,010,01 retangretang 0,005770,00577 ∞∞

CCcc correção combinadacorreção combinada --0,0050,005

uucc incerteza combinadaincerteza combinada normalnormal 0,01530,0153 55

UU incerteza expandidaincerteza expandida normalnormal 0,04050,0405

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 88/124)

P8 – Expressão do resultado

UICMPC CB )(

0405,0140,20)005,0(000,20 BC

gCB )04,015,0(

Para este ponto de calibração, a correção a ser Para este ponto de calibração, a correção a ser aplicada na balança em condições de aplicada na balança em condições de laboratório é de laboratório é de --0,15 g, conhecida com uma 0,15 g, conhecida com uma incerteza expandida de 0,04 g. incerteza expandida de 0,04 g.

Slides do livroFMCI

6.8.b6.8.bIncerteza da medição de uma jóia Incerteza da medição de uma jóia

por uma balança digitalpor uma balança digital

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 90/124)

Temperatura ambiente: (25 ± 1)°C

Média 19,950s 0,0313

Resolução: 0,02 g

Indic. C U0 0,00 0,035 -0,04 0,0310 -0,08 0,0415 -0,12 0,0420 -0,15 0,0425 -0,17 0,0430 -0,17 0,0435 -0,15 0,0540 -0,13 0,0545 -0,10 0,0550 -0,07 0,05

Dados da calibração

Deriva térmica: 0,008 g/KDeriva temporal:

± 0,010 g/mês

19,9419,9219,9819,9619,9019,9420,0019,9419,9419,9619,9220,00

19,94 g

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 91/124)

P1 – Análise do processo de medição

1.1. MensurandoMensurando: massa de uma jóia. Invariável : massa de uma jóia. Invariável e bem definida.e bem definida.

2.2. ProcedimentoProcedimento: ligar, limpar, aguardar 30 : ligar, limpar, aguardar 30 min, regular zero, medir 12 vezes e média.min, regular zero, medir 12 vezes e média.

3.3. AmbienteAmbiente: Temperatura de (25,0 : Temperatura de (25,0 ±± 1,0) 1,0) °°C, C, diferente da de calibração.diferente da de calibração.

4.4. OperadorOperador: exerce pouca influência. : exerce pouca influência. Indicação digital e sem força de medição.Indicação digital e sem força de medição.

5.5. O sistema de mediçãoO sistema de medição: correções : correções conhecidas porém de 5 meses atrás.conhecidas porém de 5 meses atrás.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 92/124)

P2 – Fontes de incertezas

1.1. Repetitividade natural da balança (Re)Repetitividade natural da balança (Re)2.2. Resolução limitada da balança (R)Resolução limitada da balança (R)3.3. Correção da balança levantada na Correção da balança levantada na

calibração (Ccalibração (CCalCal))4.4. Deriva temporal (DDeriva temporal (DTempTemp))5.5. Deriva térmica (DDeriva térmica (DTerTer))

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 93/124)

P3 – Estimativa da correção:

1.1. A repetitividade natural da balança e a A repetitividade natural da balança e a resolução limitada trazem apenas resolução limitada trazem apenas componentes aleatórias.componentes aleatórias.

2.2. A correção da balança possui componente A correção da balança possui componente sistemática de Csistemática de CCCalCCal = = --0,15 g0,15 g

3.3. Não é possível prever a componente Não é possível prever a componente sistemática da deriva temporal.sistemática da deriva temporal.

4.4. A deriva térmica possui componente A deriva térmica possui componente sistemática:sistemática:

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 94/124)

probabilidade

probabilidade

2220 24 26

temperatura

0,0160,000 0,032 0,048

erro

0,040CDTer = -0,040 g

(C)

(g)

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 95/124)

P4 – Correção combinada

1.1. Calculada pela soma algébrica das correções Calculada pela soma algébrica das correções estimadas para cada fonte de incertezas:estimadas para cada fonte de incertezas:

Cc = 0,00 + 0,00 + (-0,15) + 0,00 + (-0,04)

Cc = CRe + CR + CCCal +CDTemp + CDTer

Cc = -0,19 g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 96/124)

BALANÇO DE INCERTEZASBALANÇO DE INCERTEZASprocesso de mediçãoprocesso de medição medição da massa de uma pedra preciosamedição da massa de uma pedra preciosa unidade:unidade: gg

fontes de incertezasfontes de incertezas efeitos sistemáticosefeitos sistemáticos efeitos aleatóriosefeitos aleatórios

símbolosímbolo descriçãodescrição correçãocorreção aa distribuiçãodistribuição uu νν

ReRe repetitividade naturalrepetitividade natural --

RR resolução do mostradorresolução do mostrador --

CCCalCal correção da calibraçãocorreção da calibração --0,150,15

DDTempTemp deriva temporalderiva temporal --

DDTerTer deriva térmicaderiva térmica --0,040,04

CCcc correção combinadacorreção combinada --0,190,19

uucc incerteza combinadaincerteza combinada normalnormal

UU incerteza expandidaincerteza expandida normalnormal

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 97/124)

P5 – Incertezas padrão

1.1. Repetitividade: Repetitividade: Estimada experimentalmente através das 12 Estimada experimentalmente através das 12 medições repetidas. medições repetidas. A média das 12 medições será adotadaA média das 12 medições será adotada

guu 0090,012

0313,012Re 11Re

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 98/124)

P5 – Incertezas padrão

2.2. Resolução limitada: Resolução limitada: O valor da resolução é 0,02 g.O valor da resolução é 0,02 g.Sua incerteza tem distribuição retangular com Sua incerteza tem distribuição retangular com aa = R/2 = 0,01 g. Logo:= R/2 = 0,01 g. Logo:

00577,0301,0

32/

3

RauR R

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 99/124)

P5 – Incertezas padrão

3.3. Correção da balançaCorreção da balançaIncerteza expandida disponível no certificado Incerteza expandida disponível no certificado de calibração.de calibração.A incerteza padrão é calculada dividindo a A incerteza padrão é calculada dividindo a incerteza expandida pelo coeficiente de incerteza expandida pelo coeficiente de Student, cujo menor valor possível é 2, o que Student, cujo menor valor possível é 2, o que corresponde a infinitos graus de liberdade:corresponde a infinitos graus de liberdade:

02,0204,0

2 CCal

CCalUu MP

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 100/124)

P5 – Incertezas padrão

4.4. Deriva temporalDeriva temporalA balança degrada cerca de A balança degrada cerca de ±± 0,010 g/mês0,010 g/mêsApós 5 meses, a degradação é de Após 5 meses, a degradação é de ±± 0,050 g0,050 gAssumeAssume--se distribuição retangular:se distribuição retangular:

0033,03

050,0DTempu

DTemp- 0,05 g + 0,05 g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 101/124)

probabilidade

probabilidade

2220 24 26

temperatura

0,0160,000 0,032 0,048

erro

0046,03

008,03

auDTer DTer

0,008 g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 102/124)

BALANÇO DE INCERTEZASBALANÇO DE INCERTEZASprocesso de mediçãoprocesso de medição medição da massa de uma pedra preciosamedição da massa de uma pedra preciosa unidade:unidade: gg

fontes de incertezasfontes de incertezas efeitos sistemáticosefeitos sistemáticos efeitos aleatóriosefeitos aleatórios

símbolosímbolo descriçãodescrição correçãocorreção aa distribuiçãodistribuição uu νν

ReRe repetitividade naturalrepetitividade natural -- normalnormal 0,00900,0090 1111

RR resolução do mostradorresolução do mostrador -- 0,010,01 retangretang 0,005770,00577 ∞∞

CCCalCal correção da calibraçãocorreção da calibração --0,150,15 0,040,04 normalnormal 0,02000,0200 ∞∞

DDTempTemp deriva temporalderiva temporal -- 0,050,05 retangretang 0,00330,0033 ∞∞

DDTerTer deriva térmicaderiva térmica --0,040,04 0,0080,008 retangretang 0,004610,00461 ∞∞

CCcc correção combinadacorreção combinada --0,190,19

uucc incerteza combinadaincerteza combinada normalnormal

UU incerteza expandidaincerteza expandida normalnormal

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 103/124)

P6 – Incertezas padrão combinada

Combinando tudo:Combinando tudo:

22222Re DTerDTmpCCalRc uuuuuu

22222 )0046,0()0033,0()020,0()00577,0()0090,0( cu

g0,023410).1,219,104003,3381( 6 cu

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 104/124)

Participação percentual de cada Participação percentual de cada fonte de incertezasfonte de incertezas

73.2%

14.8%6.1% 3.9% 2.0%

0%

10%

20%

30%

40%

50%

60%

70%

80%

Ccal Re R Dter Dtemp

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 105/124)

P6 – Graus de liberdade efetivos

DTer

DTer

DTmp

DTmp

CCal

CCal

R

R

ef

c uuuuuu

4444

Re

4Re

4

444444 )0046,0()0033,0()020,0()00577,0(11

)0090,0()0234,0(

ef

503ef

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 106/124)

P7 – Incerteza expandida

gutU c 047,00234,0.00,2.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 107/124)

BALANÇO DE INCERTEZASBALANÇO DE INCERTEZASprocesso de mediçãoprocesso de medição medição da massa de uma pedra preciosamedição da massa de uma pedra preciosa unidade:unidade: gg

fontes de incertezasfontes de incertezas efeitos sistemáticosefeitos sistemáticos efeitos aleatóriosefeitos aleatórios

símbolosímbolo descriçãodescrição correçãocorreção aa distribuiçãodistribuição uu νν

ReRe repetitividade naturalrepetitividade natural -- normalnormal 0,00900,0090 1111

RR resolução do mostradorresolução do mostrador -- 0,010,01 retangretang 0,005770,00577 ∞∞

CCCalCal correção da calibraçãocorreção da calibração --0,150,15 0,040,04 normalnormal 0,02000,0200 ∞∞

DDTempTemp deriva temporalderiva temporal -- 0,050,05 retangretang 0,00330,0033 ∞∞

DDTerTer deriva térmicaderiva térmica --0,040,04 0,0080,008 retangretang 0,004610,00461 ∞∞

CCcc correção combinadacorreção combinada --0,190,19

uucc incerteza combinadaincerteza combinada normalnormal 0,02340,0234 503503

UU incerteza expandidaincerteza expandida normalnormal 0,0470,047

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 108/124)

P8 – Expressão do resultado

Nestas condições é possível afirmar que o valor Nestas condições é possível afirmar que o valor da massa da pedra preciosa está dentro do da massa da pedra preciosa está dentro do intervalo (19,76 intervalo (19,76 ±± 0,05) g.0,05) g.

UCIRM C 047,0)19,0(95,19 RM

gRM )05,076,19(

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 109/124)

P8 – Expressão do resultado

Assim, sem que nenhum erro sistemático seja Assim, sem que nenhum erro sistemático seja compensado, é possível afirmar que o valor da massa da compensado, é possível afirmar que o valor da massa da pedra preciosa está dentro do intervalo (19,95 pedra preciosa está dentro do intervalo (19,95 ±± 0,24) g.0,24) g.

Se os erros sistemáticos não fossem corrigidos, o valor Se os erros sistemáticos não fossem corrigidos, o valor absoluto da correção combinada |Cc| = 0,19 g deveria absoluto da correção combinada |Cc| = 0,19 g deveria ser algebricamente somado à incerteza de medição:ser algebricamente somado à incerteza de medição:

)( CCUIRM )19,0047,0(95,19 RM

gRM )24,095,19(

Slides do livroFMCI

6.8.c6.8.cIncerteza da medição de um Incerteza da medição de um mensurando variável por uma mensurando variável por uma

balança digitalbalança digital

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 111/124)

Temperatura ambiente: (25 ± 1)°C

Média 20,202s 0,242

Resolução: 0,02 g

Indic. C U0 0,00 0,035 -0,04 0,0310 -0,08 0,0415 -0,12 0,0420 -0,15 0,0425 -0,17 0,0430 -0,17 0,0435 -0,15 0,0540 -0,13 0,0545 -0,10 0,0550 -0,07 0,05

Dados da calibração

Deriva térmica: 0,008 g/KDeriva temporal:

± 0,010 g/mês

20,20 g

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 112/124)

P1 – Análise do processo de medição

1.1. MensurandoMensurando: massa de um conjunto de : massa de um conjunto de parafusos. Variável.parafusos. Variável.

2.2. ProcedimentoProcedimento: ligar, limpar, aguardar 30 : ligar, limpar, aguardar 30 min, regular zero, medir uma vez cada min, regular zero, medir uma vez cada parafuso, calcular média e desvio padrão.parafuso, calcular média e desvio padrão.

3.3. AmbienteAmbiente: Temperatura de (25,0 : Temperatura de (25,0 ±± 1,0) 1,0) °°C, C, diferente da de calibração.diferente da de calibração.

4.4. OperadorOperador: exerce pouca influência. : exerce pouca influência. Indicação digital e sem força de medição.Indicação digital e sem força de medição.

5.5. O sistema de mediçãoO sistema de medição: correções : correções conhecidas porém de 5 meses atrás.conhecidas porém de 5 meses atrás.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 113/124)

P2 – Fontes de incertezas

1.1. Repetitividade natural da balança (Re) Repetitividade natural da balança (Re) combinada com a variabilidade do processo.combinada com a variabilidade do processo.

2.2. Resolução limitada da balança (R)Resolução limitada da balança (R)3.3. Correção da balança levantada na Correção da balança levantada na

calibração (Ccalibração (CCalCal))4.4. Deriva temporal (DDeriva temporal (DTempTemp))5.5. Deriva térmica (DDeriva térmica (DTerTer))

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 114/124)

P3 – Estimativa da correção:

1.1. A repetitividade natural da balança e a A repetitividade natural da balança e a resolução limitada trazem apenas resolução limitada trazem apenas componentes aleatórias.componentes aleatórias.

2.2. A correção da balança possui componente A correção da balança possui componente sistemática de Csistemática de CCCalCCal = = --0,15 g0,15 g

3.3. Não é possível prever a componente Não é possível prever a componente sistemática da deriva temporal.sistemática da deriva temporal.

4.4. A deriva térmica possui componente A deriva térmica possui componente sistemática:sistemática:

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 115/124)

P4 – Correção combinada

1.1. Calculada pela soma algébrica das correções Calculada pela soma algébrica das correções estimadas para cada fonte de incertezas:estimadas para cada fonte de incertezas:

Cc = 0,00 + 0,00 + (-0,15) + 0,00 + (-0,04)

Cc = CRe + CR + CCCal +CDTemp + CDTer

Cc = -0,19 g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 116/124)

BALANÇO DE INCERTEZASBALANÇO DE INCERTEZASprocesso de mediçãoprocesso de medição medição da massa de uma pedra preciosamedição da massa de uma pedra preciosa unidade:unidade: gg

fontes de incertezasfontes de incertezas efeitos sistemáticosefeitos sistemáticos efeitos aleatóriosefeitos aleatórios

símbolosímbolo descriçãodescrição correçãocorreção aa distribuiçãodistribuição uu νν

ReRe repetitividade naturalrepetitividade natural --

RR resolução do mostradorresolução do mostrador --

CCCalCal correção da calibraçãocorreção da calibração --0,150,15

DDTempTemp deriva temporalderiva temporal --

DDTerTer deriva térmicaderiva térmica --0,040,04

CCcc correção combinadacorreção combinada --0,190,19

uucc incerteza combinadaincerteza combinada normalnormal

UU incerteza expandidaincerteza expandida normalnormal

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 117/124)

P5 – Incertezas padrão

1.1. Repetitividade: Repetitividade: Estimada experimentalmente através da Estimada experimentalmente através da medição dos 50 parafusos. medição dos 50 parafusos. Será adotada a repetitividade das indicações Será adotada a repetitividade das indicações e não da média:e não da média:

gsu 242,0Re 49Re

2.2. As contribuições das demais fontes de As contribuições das demais fontes de incerteza permanecem as mesmas do exemplo incerteza permanecem as mesmas do exemplo anterior.anterior.

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 118/124)

BALANÇO DE INCERTEZASBALANÇO DE INCERTEZASprocesso de mediçãoprocesso de medição medição da massa de uma pedra preciosamedição da massa de uma pedra preciosa unidade:unidade: gg

fontes de incertezasfontes de incertezas efeitos sistemáticosefeitos sistemáticos efeitos aleatóriosefeitos aleatórios

símbolosímbolo descriçãodescrição correçãocorreção aa distribuiçãodistribuição uu νν

ReRe repetitividade naturalrepetitividade natural -- normalnormal 0,2420,242 4949

RR resolução do mostradorresolução do mostrador -- 0,010,01 retangretang 0,005770,00577 ∞∞

CCCalCal correção da calibraçãocorreção da calibração --0,150,15 0,040,04 normalnormal 0,02000,0200 ∞∞

DDTempTemp deriva temporalderiva temporal -- 0,050,05 retangretang 0,00330,0033 ∞∞

DDTerTer deriva térmicaderiva térmica --0,040,04 0,080,08 retangretang 0,04610,0461 ∞∞

CCcc correção combinadacorreção combinada --0,190,19

uucc incerteza combinadaincerteza combinada normalnormal

UU incerteza expandidaincerteza expandida normalnormal

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 119/124)

P6 – Incertezas padrão combinada

Combinando tudo:Combinando tudo:

22222Re DTerDTmpCCalRc uuuuuu

22222 )0046,0()0033,0()020,0()00577,0()242,0( cu

g0,24310).1,219,104003,3358564( 6 cu

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 120/124)

Participação percentual de cada Participação percentual de cada fonte de incertezasfonte de incertezas

99.2%

0.7% 0.1% 0.0% 0.0%0%10%20%30%40%50%60%70%80%90%

100%

Re Ccal R Dter Dtemp

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 121/124)

P6 – Graus de liberdade efetivos

DTer

DTer

DTmp

DTmp

CCal

CCal

R

R

ef

c uuuuuu

4444

Re

4Re

4

444444 )0046,0()0033,0()020,0()00577,0(49

)242,0()243,0(

ef

50ef

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 122/124)

P7 – Incerteza expandida

gutU c 498,0243,0.051,2.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 123/124)

BALANÇO DE INCERTEZASBALANÇO DE INCERTEZASprocesso de mediçãoprocesso de medição medição da massa de uma pedra preciosamedição da massa de uma pedra preciosa unidade:unidade: gg

fontes de incertezasfontes de incertezas efeitos sistemáticosefeitos sistemáticos efeitos aleatóriosefeitos aleatórios

símbolosímbolo descriçãodescrição correçãocorreção aa distribuiçãodistribuição uu νν

ReRe repetitividade naturalrepetitividade natural -- normalnormal 0,2420,242 4949

RR resolução do mostradorresolução do mostrador -- 0,010,01 retangretang 0,005770,00577 ∞∞

CCCalCal correção da calibraçãocorreção da calibração --0,150,15 0,040,04 normalnormal 0,02000,0200 ∞∞

DDTempTemp deriva temporalderiva temporal -- 0,050,05 retangretang 0,00330,0033 ∞∞

DDTerTer deriva térmicaderiva térmica --0,040,04 0,080,08 retangretang 0,04610,0461 ∞∞

CCcc correção combinadacorreção combinada --0,190,19

uucc incerteza combinadaincerteza combinada normalnormal 0,2430,243 5050

UU incerteza expandidaincerteza expandida normalnormal 0,4980,498

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 124/124)

P8 – Expressão do resultado

Nestas condições é possível afirmar as massas Nestas condições é possível afirmar as massas dos parafusos produzidos está dentro da faixa dos parafusos produzidos está dentro da faixa (20,0 (20,0 ±± 0,5) g.0,5) g.

UCIRM C 498,0)19,0(202,20 RM

gRM )5,00,20(